[发明专利]一种碳化硅晶体的制备方法、碳化硅晶片、碳化硅衬底及半导体器件在审

专利信息
申请号: 202110683397.9 申请日: 2021-06-18
公开(公告)号: CN113463197A 公开(公告)日: 2021-10-01
发明(设计)人: 林大野;王治中;蔡钦铭 申请(专利权)人: 广州爱思威科技股份有限公司
主分类号: C30B29/36 分类号: C30B29/36;C30B25/20;C30B25/02
代理公司: 深圳市世纪恒程知识产权代理事务所 44287 代理人: 陈小娟
地址: 510000 广东省广州市南沙区万顷*** 国省代码: 广东;44
权利要求书: 暂无信息 说明书: 暂无信息
摘要: 发明公开一种碳化硅晶体的制备方法、碳化硅晶片、碳化硅衬底及半导体器件,所述碳化硅晶体的制备方法包括以下步骤:将甲基三氯硅烷和氢气在第一反应腔内进行还原分解反应,生成四氢化硅和乙烷;将所述四氢化硅和乙烷在第二反应腔内进行反应,生成碳化硅单晶;使所述碳化硅单晶在籽晶处形核、长大,结晶形成碳化硅单晶并生长成为碳化硅晶体。本发明以甲基三氯硅烷为原料,采用HTCVD方法生长制备碳化硅,显著降低了碳化硅制备过程中的反应温度,避免了碳源挥发造成碳化硅质量下降的问题,提高了制备所得的碳化硅晶体的质量。
搜索关键词: 一种 碳化硅 晶体 制备 方法 晶片 衬底 半导体器件
【主权项】:
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