[发明专利]非易失性存储器及其制备方法有效

专利信息
申请号: 202110591322.8 申请日: 2021-05-28
公开(公告)号: CN113380881B 公开(公告)日: 2022-12-27
发明(设计)人: 丁士进;霍景永;熊文;吴小晗;张卫 申请(专利权)人: 复旦大学;上海集成电路制造创新中心有限公司
主分类号: H01L29/423 分类号: H01L29/423;H01L29/792;H01L21/34;H01L21/44
代理公司: 上海恒锐佳知识产权代理事务所(普通合伙) 31286 代理人: 黄海霞
地址: 200433 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供了一种非易失性存储器,包括源电极、漏电极、以及从下而上依次堆叠设置的栅极、电荷阻挡层、电荷俘获层、电荷隧穿层和有源沟道层,所述源电极和所述漏电极分别设置于所述有源沟道层的两侧且包覆部分所述有源沟道层;所述电荷俘获层包括若干N型氧化物半导体薄膜和若干P型氧化物半导体薄膜,所述N型氧化物半导体薄膜和所述P型氧化物半导体薄膜交替堆叠设置,使得不仅能同时实现电编程与擦除操作,以及具有良好的数据保持特性,而且有利于降低所述非易失性存储器的操作电压,提高电编程与擦除效率。本发明还提供了所述非易失性存储器的制备方法。
搜索关键词: 非易失性存储器 及其 制备 方法
【主权项】:
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