[发明专利]一种用于液晶屏的导电粒子缺陷检测的深度学习算法在审
| 申请号： | 202110332793.7 | 申请日： | 2021-03-29 |
| 公开（公告）号： | CN113012139A | 公开（公告）日： | 2021-06-22 |
| 发明（设计）人： | 高飞;高小冬 | 申请（专利权）人： | 南京奥纵智能科技有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06K9/32;G06K9/46;G06K9/62;G06N3/04;G06N3/08 |
| 代理公司： | 天津垠坤知识产权代理有限公司 12248 | 代理人： | 王忠玮 |
| 地址： | 211505 江苏省南京市六合区*** | 国省代码： | 江苏;32 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供本发明提供一种用于液晶屏的导电粒子缺陷检测的深度学习算法，通过收集带缺陷的粒子图像，标注缺陷图像，设置训练的参数，修改卷积神经网络的层和结点，预测目标图像所包含的缺陷，实现缺陷的有效识别。本发明能检测出导电粒子的优劣，检测精度和检测稳定性高，提高了视觉检测设备的功能性和稳定性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 液晶屏 导电 粒子 缺陷 检测 深度 学习 算法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于南京奥纵智能科技有限公司，未经南京奥纵智能科技有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202110332793.7/，转载请声明来源钻瓜专利网。
