[发明专利]碳化硅晶体以及用于生产其的方法在审

专利信息
申请号: 202110237647.6 申请日: 2021-03-01
公开(公告)号: CN113337892A 公开(公告)日: 2021-09-03
发明(设计)人: 伊利亚·茨维巴克;瓦拉他拉扬·伦加拉扬;安德鲁·N·苏齐兹;加里·E·鲁兰 申请(专利权)人: II-VI特拉华有限公司
主分类号: C30B29/36 分类号: C30B29/36;C30B31/10;C30B25/00
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 蔡胜有;孙雅雯
地址: 美国特*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 本公开内容一般地涉及可以用于光学应用中的碳化硅晶体,以及涉及用于生产其的方法。在一种形式中,组合物包含铝掺杂的碳化硅晶体,所述铝掺杂的碳化硅晶体具有残留的氮和硼杂质。碳化硅晶体中的铝的浓度大于碳化硅晶体中的氮和硼的组合浓度,并且碳化硅晶体在约400nm至约800nm的范围内的波长下的光吸收系数小于约0.4cm‑1
搜索关键词: 碳化硅 晶体 以及 用于 生产 方法
【主权项】:
暂无信息
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