[实用新型]一种半导体发光二极管检测设备有效
| 申请号： | 202021104460.6 | 申请日： | 2020-06-16 |
| 公开（公告）号： | CN213364951U | 公开（公告）日： | 2021-06-04 |
| 发明（设计）人： | 不公告发明人 | 申请（专利权）人： | 苏州奥肯思电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26;G01R1/04 |
| 代理公司： | 上海宏京知识产权代理事务所(普通合伙) 31297 | 代理人： | 王晓蕾 |
| 地址： | 215101 江苏省苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种半导体发光二极管检测设备，包括底座，还包括：整流器，所述整流器可拆卸设置于底座的顶部；机架，所述机架可拆卸设置于底座的顶部，且整流器处于机架内侧；检测机构，所述检测机构可拆卸设置于机架的顶部。所述检测机构包括：外壳，所述外壳可拆卸设置于机架的顶部，且外壳的内壁沿周向均开设有滑道；制动组件，所述制动组件可拆卸设置于外壳的左侧壁顶部；螺杆，所述螺杆的两端通过轴承分别转动连接于外壳的左右内壁中心位置。该半导体发光二极管检测设备，对视力要求不高，也不用手握电笔，避免工作人员过度劳累，便于发光二极管与电源连接，提高检测效率，大大的满足了发光二极管的检测需求。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 半导体 发光二极管 检测 设备 | ||
【主权项】：
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