[实用新型]一种半导体发光二极管检测设备

权利要求书

1.一种半导体发光二极管检测设备，包括底座(1)，其特征在于，还包括：

整流器(2)，所述整流器(2)可拆卸设置于底座(1)的顶部；

机架(3)，所述机架(3)可拆卸设置于底座(1)的顶部，且整流器(2)处于机架(3)内侧；

检测机构(4)，所述检测机构(4)可拆卸设置于机架(3)的顶部；

所述检测机构(4)包括：

外壳(41)，所述外壳(41)可拆卸设置于机架(3)的顶部，且外壳(41)的内壁沿周向均开设有滑道(42)；

制动组件(43)，所述制动组件(43)可拆卸设置于外壳(41)的左侧壁顶部；

螺杆(44)，所述螺杆(44)的两端通过轴承分别转动连接于外壳(41)的左右内壁中心位置，且螺杆(44)的端部延伸出外壳(41)的外壁；

摩擦片(45)，所述摩擦片(45)可拆卸设置于螺杆(44)的一端，且外壁呈圆形；

旋钮(46)，所述旋钮(46)可拆卸设置于螺杆(44)的另一端；

移动块(47)，两个所述移动块(47)分别螺接于螺杆(44)的外壁中部左右两侧；

滑块(48)，若干个所述滑块(48)沿周向设置于移动块(47)的外壁，且可左右移动的内嵌于滑道(42)的内腔；

接触组件(49)，所述接触组件(49)可拆卸设置于移动块(47)的前侧，且前侧延伸出外壳(41)的内腔；

刻度尺(410)，所述刻度尺(410)粘接于外壳(41)的前侧右下角。

2.根据权利要求1所述的一种半导体发光二极管检测设备，其特征在于：所述螺杆(44)的外壁左右两侧螺纹为正反螺纹。

3.根据权利要求1所述的一种半导体发光二极管检测设备，其特征在于：所述制动组件(43)包括：

支撑板(431)，所述支撑板(431)可拆卸设置于外壳(41)的左侧顶部；

导杆(432)，两个所述导杆(432)分别上下贯穿的内嵌于支撑板(431)的内腔顶部前后两侧；

第一弹簧(433)，所述第一弹簧(433)套接于导杆(432)的外壁；

拉柄(434)，所述拉柄(434)可拆卸设置于导杆(432)的顶端；

刹车片(435)，所述刹车片(435)可拆卸设置于导杆(432)的底端，且在第一弹簧(433)的作用下刹车片(435)与摩擦片(45)接触对螺杆(44)制动。

4.根据权利要求3所述的一种半导体发光二极管检测设备，其特征在于：所述刹车片(435)的底部呈弧形，且与摩擦片(45)相匹配。

5.根据权利要求1所述的一种半导体发光二极管检测设备，其特征在于：所述接触组件(49)包括：

绝缘筒(491)，所述绝缘筒(491)可拆卸设置于移动块(47)的前侧；

第二弹簧(492)、金属触点(493)，所述第二弹簧(492)和金属触点(493)从后至前内嵌于绝缘筒(491)的内腔，所述第二弹簧(492)的一端与绝缘筒(491)的内腔后端卡接，且另一端与金属触点(493)后端卡接，所述金属触点(493)与整流器(2)电性连接。

6.根据权利要求5所述的一种半导体发光二极管检测设备，其特征在于：所述绝缘筒(491)的内径从前至后逐渐变小。