[实用新型]用于高频电子元件测试的取置装置有效
| 申请号： | 202020454401.5 | 申请日： | 2020-04-01 |
| 公开（公告）号： | CN212639132U | 公开（公告）日： | 2021-03-02 |
| 发明（设计）人： | 张胜凯 | 申请（专利权）人： | 百尼尔机械股份有限公司 |
| 主分类号： | B65G47/91 | 分类号： | B65G47/91;G01R31/00 |
| 代理公司： | 北京泰吉知识产权代理有限公司 11355 | 代理人： | 史瞳;谢琼慧 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 台湾;71 |
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| 摘要： | 一种用于高频电子元件测试的取置装置，用于将至少一高频电子元件取放至用于电性测试的密封环境室以进行电性测试，所述的取置装置包含水平位移单元、垂直移动单元，及真空吸附单元，所述的水平位移单元被控制地于所述的密封环境室下方移动，所述的垂直移动单元被所述的水平位移单元带动，且能被控制地上下移动，所述的真空吸附单元被控制地以负压方式吸放至少一高频电子元件，本实用新型特别为5G时代的电子元件，提供一种新颖的、自密封环境室底部送入待测试电子元件以进行电性测试的取置装置，以配合封测技术的发展需要。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 高频 电子元件 测试 装置 | ||
【主权项】：
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