[实用新型]用于高频电子元件测试的取置装置

说明书

一种用于高频电子元件测试的取置装置，用于将至少一高频电子元件取放至用于电性测试的密封环境室以进行电性测试，所述的取置装置包含水平位移单元、垂直移动单元，及真空吸附单元，所述的水平位移单元被控制地于所述的密封环境室下方移动，所述的垂直移动单元被所述的水平位移单元带动，且能被控制地上下移动，所述的真空吸附单元被控制地以负压方式吸放至少一高频电子元件，本实用新型特别为5G时代的电子元件，提供一种新颖的、自密封环境室底部送入待测试电子元件以进行电性测试的取置装置，以配合封测技术的发展需要。

技术领域

本实用新型涉及一种取置装置，特别是涉及一种用于5G时代的电子元件进行封装测试的取置装置。

背景技术

参阅图1，一般电子元件800在封装(package)后，会被运送至移料机座911中整齐堆放，再配合取置装置自移料机座911中抓取后放置于测试座924中，并于测试座924中再配合另一测试机具(图未示出)进行测试(testing)，以检验电子元件800的电性表现是否符合出货规格。

现有的取置装置大致包括一组设计于移料机座911和测试座924间的轨道801、一组能沿着轨道801在临近移料机座911和测试座924移动的移动组件802，及一组与负压系统连接的吸附臂803，吸附臂803当被移动组件802带动靠近移料机座911时，能被控制地以负压吸取置放于移料机座911中的电子元件800，之后再被移动组件802带动靠近测试座924时，再被控制地将电子元件800放置于测试座924中，让被放置于测试座924中的电子元件800配合测试机具进行电性测试。

这样的取置装置的设计概念，主要是基于机械装置作动惯性的考虑，以最方便、可靠的方式，用吸附臂803将电子元件800从移料机座911、测试座924上方被吸取离开，及放置入移料机座911或测试座924中，而这样的取置装置也确实可以满足数个电子元件800测试时的需求，在移料机座911、测试座924间稳定的抓取、放置待测试的电子元件800。

但随着5G时代的来临，运用于5G的高频电子元件900在进行电性测试时，主要方式是为“天线系统封装测试”，也就是必须将待测试的高频电子元件900置于密封环境室921中(参阅图6)，通过例如包括数个天线接收电讯号的方式进行电性测试。而基于在密封环境室921中，接收电讯号的天线必须设计于其顶部或邻近顶部的周边才能有效地仿真使用需求而进行电讯号的收发测试，因此，现有的取置装置并无法在不影响密封环境室921中设置的数个天线的接收电讯号前提下，正确地将待测试的高频电子元件900放置于测试座924上进行测试。

于是，现有用于电性测试的取置装置必须重新设计改良，以满足高频电子元件900测试时的需求。

实用新型内容

本实用新型的目的，在于提供一种应用于5G的高频电子元件的电性测试用的取置装置。

本实用新型一种用于高频电子元件测试的取置装置，用于在移料机座和用于电性测试的密封环境室间取放至少一高频电子元件以进行电性测试。

所述的移料机座包括用于放置高频电子元件的置料单元，及用于将高频电子元件放置于所述的置料单元的机械手臂，所述的密封环境室包括于底部形成有开口的中空壳体，及对应于所述的开口地设置于所述的中空壳体中以供至少一高频电子元件进行电性测试的测试座。

所述的取置装置包含水平位移单元、垂直移动单元，及真空吸附单元。

所述的水平位移单元设置于所述的移料机座与所述的密封环境室间，被控制地于邻近所述的置料单元的第一位置与位于所述的开口下方的第二位置间移动。

所述的垂直移动单元被所述的水平位移单元带动，且能被控制地再被带动至所述的第一位置及所述的第二位置其中任一时上下移动。