[发明专利]一种半导体存储器的测试方法在审
| 申请号： | 202011408393.1 | 申请日： | 2020-12-03 |
| 公开（公告）号： | CN112331251A | 公开（公告）日： | 2021-02-05 |
| 发明（设计）人： | 林汉忠 | 申请（专利权）人： | 深圳市博业诚电子有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/00 | 分类号： | G11C29/00 |
| 代理公司： | 深圳市查策知识产权代理事务所(普通合伙) 44527 | 代理人： | 曾令安 |
| 地址： | 518048 广东省深圳市福田区华强*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种半导体存储器的测试方法，涉及半导体存储器测试技术领域。本发明包括DC测试、功能测试和AC测试，所述DC测试验证半导体的电压及电流参数，所述功能测试验证芯片内部一系列逻辑功能性操作及其正确性，所述AC测试以保证芯片能在特定的时间约束内完成逻辑操作。本发明半导体存储器的测试方法对于半导体硬件的检测精度更高，检测环节涉及范围更广，能够有效降低失误率，提高产品良率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 半导体 存储器 测试 方法 | ||
【主权项】：
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