[发明专利]一种半导体存储器的测试方法

权利要求书

1.一种半导体存储器的测试方法，包括DC测试、功能测试和AC测试，其特征在于：所述DC测试验证半导体的电压及电流参数，所述功能测试验证芯片内部一系列逻辑功能性操作及其正确性，所述AC测试以保证芯片能在特定的时间约束内完成逻辑操作。

2.根据权利要求1所述的一种半导体存储器的测试方法，其特征在于，所述测试方法包括如下步骤：

步骤一：将晶圆切割成各独立的电路单元，单个单元进行独立封装和测试；

步骤二：对上述切割的独立电路单元进行一次测试，测试方向为验证各电路单元封装后的正确性，以符合完成指标；

步骤三：对上述步骤测试完成的各独立电路单元进行器件特性描述，设定器件工作参数范围的极限值；

步骤四：对进行器件特性描述后的晶圆进行二次测试，测试方向为抗老化指标；

步骤五：上述测试指标完成后进行封装验证，检验芯片经过封装过程后是否依然完好；

步骤六：对上述步骤五中的封装验证过程进行评估，以验证其正确性，以对封装验证环节进行进一步优化。

3.根据权利要求2所述的一种半导体存储器的测试方法，其特征在于，所述测试方法利用测试程序进行系统硬件的测试，并随之给出相应的测试结果，以判定该硬件是否达到设计要求。

4.根据权利要求3所述的一种半导体存储器的测试方法，其特征在于，所述步骤二中对切割的独立电路单元测试还包括质量保证测试，以确保无不合格品。

5.根据权利要求4所述的一种半导体存储器的测试方法，其特征在于，所述步骤四中抗老化指标的测试方法包括扩大温度范围的方式。

6.根据权利要求5所述的一种半导体存储器的测试方法，其特征在于，所述测试方法得出测试结果后，依据测试结果按性能进行硬件分类，从而划分其实际应用领域。

7.根据权利要求6所述的一种半导体存储器的测试方法，其特征在于，所述测试系统由电子电路和机械硬件组成，是由同一个主控制器指挥下的电源、计量仪器、信号发生器、模式生成器和其他硬件项目的集合体。

8.根据权利要求7所述的一种半导体存储器的测试方法，其特征在于，所述半导体器件DUT的引脚分别为信号、电源和地，信号脚包括输入、输出、三态和双向四类，电源脚包括电源和地，其组成供电回路，有与信号引脚不同的电路结构。

9.根据权利要求8所述的一种半导体存储器的测试方法，其特征在于，步骤七：所述步骤五检验芯片经过封装过程是否完好中，对失效芯片进行回收处理并分析找到失良的关键因素，以加强芯片的可靠性。