[发明专利]半导体存储器装置在审
| 申请号： | 202011029630.3 | 申请日： | 2020-09-27 |
| 公开（公告）号： | CN112750831A | 公开（公告）日： | 2021-05-04 |
| 发明（设计）人： | 朴光浩;金哉勳;孙龙勳;郑承宰 | 申请（专利权）人： | 三星电子株式会社 |
| 主分类号： | H01L27/108 | 分类号： | H01L27/108 |
| 代理公司： | 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 | 代理人： | 刘林果;陈亚男 |
| 地址： | 韩国京畿*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 提供了一种半导体存储器装置。所述半导体存储器装置包括：第一‑第一导线，位于基底上；第二‑第一导线，位于第一‑第一导线上；第一接触件，连接到第一‑第一导线；以及第二接触件，连接到第二‑第一导线，其中，第一‑第一导线在第一方向上突出超过第二‑第一导线，第一‑第一导线包括具有第一厚度的第一区域、具有第二厚度的第二区域和具有第三厚度的第三区域，第二厚度比第一厚度大，第三厚度比第一厚度小且比第二厚度小，并且第一‑第一导线的第二区域在第一‑第一导线的第一区域与第一‑第一导线的第三区域之间。 | ||
| 搜索关键词： | 半导体 存储器 装置 | ||
【主权项】：
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的；包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的，或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的；包括有热磁组件的
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