[发明专利]失效位元的修补方案的确定方法有效
| 申请号： | 202010955742.5 | 申请日： | 2020-09-11 |
| 公开（公告）号： | CN114171103B | 公开（公告）日： | 2023-09-12 |
| 发明（设计）人： | 陈予郎 | 申请（专利权）人： | 长鑫存储技术有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/44 | 分类号： | G11C29/44 |
| 代理公司： | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人： | 朱颖;刘芳 |
| 地址： | 230011 安徽省合肥*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本申请提供一种失效位元的修补方案的确定方法，应用于包含多个子域的芯片，该芯片还包括冗余电路，该冗余电路用于修补子域中的失效位元，该方法包括：在为子域中的当前待修补的目标失效位元确定一个或者多个可用冗余电路之后，从冗余电路的可靠性列表中获取各可用冗余电路的可靠性值，该冗余电路的可靠性列表中包括多个冗余电路的可靠性值，根据该可用冗余电路的可靠性值确定子域中的目标失效位元的修补方案。其中，冗余电路的可靠性值是对已经发生的失效位元以及冗余电路中新失效位元所在的冗余电路的关系进行大数据分析得到的，通过该方法为子域中失效位元分配的冗余电路的可靠性高，从而提高了失效位元的修补效率和修补准确率。 | ||
| 搜索关键词： | 失效 位元 修补 方案 确定 方法 | ||
【主权项】：
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