“陈予郎”申请（专利权）人搜索_中国专利权人_发明人_技术持有人_科研专家_钻瓜专利网

钻瓜专利网为您找到相关结果32个，建议您升级VIP下载更多相关专利

[发明专利]编码采集系统及方法-CN202110574189.5有效
发明人： 陈予郎 -专利权人：长鑫存储技术有限公司
申请日： 2021-05-25 - 公布日： 2023-10-20 - 主分类号： G06K7/14 文献下载
摘要：本申请涉及一种编码采集系统及方法。编码采集系统包括传送轨道、图像采集装置和图像处理装置。通过传送轨道传送内存条可以提高内存条编码的识别速度，同时传送轨道对内存条的位置和摆置方向进行限定可以提高内存条编码识别的准确度。图像采集装置用于采集内存条图像。图像处理装置中的编码区域定义模块用于根据预先载入的内存条编码的类型、尺寸以及位置划分编码区域，编码区域的设定有利于对内存条上的多个编码进行针对性识别，可以提高编码识别速度以及编码识别的准确度。编码识别模块根据内存条图像以及编码区域对内存条编码进行识别。上述编码采集系统可以通过一帧内存条图像一次性获取内存条上的全部编码，提高了内存条编码的采集效率。
编码采集系统方法

[发明专利]失效位元的修补方法及装置-CN202010832396.1有效
发明人： 陈予郎 -专利权人：长鑫存储技术有限公司
申请日： 2020-08-18 - 公布日： 2023-09-12 - 主分类号： G11C29/44 文献下载
摘要：本公开是关于一种失效位元的修补方法及装置，涉及集成电路技术领域，可以应用于对芯片中的失效位元进行修补的场景。该方法包括：确定待修补芯片的待修补区域；采用备用电路对各目标修补区域中的第一失效位元进行第一修补处理；确定第二失效位元，采用状态裁定修补步骤对第二失效位元进行第二修补处理；确定各目标修补区域的未修补失效位元，采用最佳化组合探测方式确定未修补失效位元的候选修补组合以及候选修补代价；根据候选修补代价确定目标修补代价，确定目标修补代价对应的目标修补方案，以根据目标修补方案对未修补失效位元进行修补处理。本公开可以在确定待修补芯片最佳分派解答的同时，达到大幅降低运算成本的目的。
失效位元修补方法装置

[发明专利]失效位元的修补方案的确定方法-CN202010955742.5有效
发明人： 陈予郎 -专利权人：长鑫存储技术有限公司
申请日： 2020-09-11 - 公布日： 2023-09-12 - 主分类号： G11C29/44 文献下载
摘要：本申请提供一种失效位元的修补方案的确定方法，应用于包含多个子域的芯片，该芯片还包括冗余电路，该冗余电路用于修补子域中的失效位元，该方法包括：在为子域中的当前待修补的目标失效位元确定一个或者多个可用冗余电路之后，从冗余电路的可靠性列表中获取各可用冗余电路的可靠性值，该冗余电路的可靠性列表中包括多个冗余电路的可靠性值，根据该可用冗余电路的可靠性值确定子域中的目标失效位元的修补方案。其中，冗余电路的可靠性值是对已经发生的失效位元以及冗余电路中新失效位元所在的冗余电路的关系进行大数据分析得到的，通过该方法为子域中失效位元分配的冗余电路的可靠性高，从而提高了失效位元的修补效率和修补准确率。
失效位元修补方案确定方法

[发明专利]失效位元修补方案的确定方法及装置-CN202010832380.0有效
发明人： 陈予郎 -专利权人：长鑫存储技术有限公司
申请日： 2020-08-18 - 公布日： 2023-09-12 - 主分类号： G11C29/44 文献下载
摘要：本公开是关于一种失效位元修补方案的确定方法及装置，涉及集成电路技术领域，可以应用于对芯片中的失效位元进行修补场景。该失效位元修补方案的确定方法包括：确定待修补芯片的待修补区域；其中，待修补区域包括多个目标修补区域；采用备用电路对各目标修补区域中的失效位元进行初始修补处理；如果剩余备用字线数量大于零且剩余备用位线数量大于零，则确定各目标修补区域的候选修补子方案，并确定各候选修补子方案分别对应的候选修补代价；根据各候选修补子方案和候选修补代价确定待修补区域的目标修补方案；其中，目标修补方案对应的综合修补代价最小。本公开可以在有限的RWL与RBL情况下，确定出最佳的分派解答。
失效位元修补方案确定方法装置

[发明专利]失效位元的修补方法及装置-CN202010833678.3有效
发明人： 陈予郎 -专利权人：长鑫存储技术有限公司
申请日： 2020-08-18 - 公布日： 2023-09-12 - 主分类号： G11C29/44 文献下载
摘要：本公开是关于一种失效位元的修补方法及装置，涉及集成电路技术领域，可以应用于对芯片中的失效位元进行修补的场景。该方法包括：确定待修补芯片中包括多个目标修补区域的待修补区域；采用备用电路对各目标修补区域中的第一失效位元进行第一修补处理；执行第二失效位元的位置确定步骤以确定第二失效位元的位元位置，并对第二失效位元进行第二修补处理；确定各目标修补区域的未修补失效位元，并递归执行第二失效位元的位置确定步骤以得到未修补失效位元的测试修补位置，以根据测试修补位置对未修补失效位元进行第三修补处理。本公开提出最佳化备用电路分派的三个不同阶段的失效位元修补处理方案，可以得到针对芯片中失效位元的最佳修补方案。
失效位元修补方法装置

[发明专利]失效位元修补方案的确定方法、装置及芯片-CN202010904166.1有效
发明人： 陈予郎 -专利权人：长鑫存储技术有限公司
申请日： 2020-09-01 - 公布日： 2023-09-12 - 主分类号： G11C29/44 文献下载
摘要：本公开是关于一种失效位元修补方案的确定方法、装置及芯片，涉及集成电路技术领域，可以应用于对芯片中的失效位元进行修补场景。该失效位元修补方案的确定方法包括：确定含有所述失效位元的待修补子域，以及为所述待修补子域确定初步用于修补的所述子域冗余电路；根据当前所述全域冗余电路用于替换所述初步用于修补的所述子域冗余电路后的可使用数量和所述当前所述子域冗余电路的可使用数量，确定所述待修补子域的区域层级；根据所述待修补子域的所述区域层级，控制所述全域冗余电路或者所述子域冗余电路修补所述失效位元。本公开可以有效提高芯片的制程良率，减少芯片报废的情况发生。
失效位元修补方案确定方法装置芯片

[发明专利]失效位元的修补方法及装置-CN202010832381.5有效
发明人： 陈予郎 -专利权人：长鑫存储技术有限公司
申请日： 2020-08-18 - 公布日： 2023-08-25 - 主分类号： G11C29/44 文献下载
摘要：本公开是关于一种失效位元的修补方法及装置，涉及集成电路技术领域，可以应用于对芯片中的失效位元进行修补场景。该方法包括：确定待修补芯片的待修补区域；采用备用电路对第一失效位元进行第一修补处理；确定各目标修补区域中的第二失效位元的位元位置，对第二失效位元进行第二修补处理；确定各目标修补区域的未修补失效位元，并确定候选修补组合和候选组合数量；如果候选组合数量大于组合数量阈值，则确定目标修补位置，并采用备用字线对目标修补位置进行修补处理；其中，目标修补位置为经修补处理后最大化减少候选组合数量的失效位元的位置。本公开可以避免由于无法找到失效位元的最佳修补组合导致待修补芯片被判定为无法成功修补的问题。
失效位元修补方法装置

[发明专利]文件安全管理方法、装置、设备及计算机可读存储介质-CN202110712196.7有效
发明人： 陈予郎 -专利权人：长江存储科技有限责任公司
申请日： 2021-06-25 - 公布日： 2023-04-14 - 主分类号： G06F16/17 文献下载
摘要：本申请提供了一种文件安全管理方法、装置、设备及计算机可读存储介质。上述方法包括：当检测到对文件的操作动作时，基于文件的文件归属的排他敏感词确定文件的安全层级；基于文件的安全层级，检测操作动作的控制权限是否在文件的访问权限内，在控制权限不在访问权限的范围内的情况下，禁止操作动作，文件归属包括多个下一级文件归属，且每个下一级文件归属对应唯一常用词汇，通过合并至少任意两个常用词汇中相同的词汇以获得文件归属的候选词，并通过去除多个候选词中重复的词汇以获得排他敏感词。根据该文件安全管理方法，通过大数据挖掘自动地获取文件归属的排他敏感词，并基于此确定文件的安全层级可大幅度降低文件操作中安全警示的误报率。
文件安全管理方法装置设备计算机可读存储介质

[发明专利]配方文档检测方法、装置、计算机可读介质及电子设备-CN201910258688.6有效
发明人： 陈予郎 -专利权人：长鑫存储技术有限公司
申请日： 2019-04-01 - 公布日： 2022-11-25 - 主分类号： G06F40/205 文献下载
摘要：本发明的实施例提供了一种配方文档检测方法、装置、计算机可读介质及电子设备。该配方文档检测方法包括：获取包括待检测存储空间的待检测文档信息的第一文档数据；获取包括所述待检测存储空间的已检测文档信息的第二文档数据；比对所述第一文档数据和所述第二文档数据，获得异动文档；对所述异动文档进行检测，获得所述异动文档是否为配方文档的检测结果。本发明实施例的技术方案通过将待检测存储空间的已检测文档与待检测文档的相关信息进行比对，获得异动文档，后续进行配方文档检测时，只需要检测异动文档是否配方文档即可，可以提高配方文档的检测效率，减少数据计算量。
配方文档检测方法装置计算机可读介质电子设备

[发明专利]失效位置的修补方法和装置-CN202110407955.9在审
发明人：仰蕾;陈予郎 -专利权人：长鑫存储技术有限公司
申请日： 2021-04-15 - 公布日： 2022-10-21 - 主分类号： H01L21/66 文献下载
摘要：本申请实施例提供了一种失效位置的修补方法和装置，在对晶圆的失效位置进行修补时，可以先确定待处理晶圆中的失效位元；并基于挖掘规则库中包括的潜在挖掘规则，确定与失效位元存在关联的目标潜在失效位元；这样基于挖掘规则库中的潜在挖掘规则，确定与失效位元存在关联的目标潜在失效位元，可以挖掘出更多的与失效位元存在关联的目标潜在失效位元，使得后续在对失效位元对应的失效位置，和目标潜在失效位元对应的目标潜在失效位置进行修补时，可以在一定程度上避免失效位元位置被遗漏，从而有效地降低了晶圆出现故障的概率。
失效位置修补方法装置

[发明专利]新增检测工具的合格检验方法和检验系统-CN202010945284.7有效
发明人： 陈予郎 -专利权人：长鑫存储技术有限公司
申请日： 2020-09-10 - 公布日： 2022-10-18 - 主分类号： G01R35/00 文献下载
摘要：一种新增检测工具的合格检验方法和检验系统，所述检验方法，在提供若干待检测晶圆后，将部分所述待检测晶圆在所述新的检测工具中进行检测，获得若干第一检测数据；将部分所述待检测晶圆在所述旧的检测工具中进行检测，获得若干第二检测数据；对所述若干第一检测数据和若干第二检测数据进行数据分析，获得所述若干第一检测数据和若干第二检测数据对应的类别归属；判断新的检测工具的每一个类别归属对应的第一检测数据是否合格。通过前述检验方法，对新增的新的检测工具的合格检验过程标准化和流程化，并且提高新的检测工具合格检验结果的准确性，并且提高新的检测工具合格检验过程的效率。
新增检测工具合格检验方法系统

[发明专利]半导体FDC数据分类方法、装置和计算机可读存储介质-CN202210577490.6在审
发明人：张周;陈予郎;许嘉祐 -专利权人：长江存储科技有限责任公司
申请日： 2022-05-25 - 公布日： 2022-08-30 - 主分类号： G06F16/906 文献下载
摘要：本申请提供了一种半导体FDC数据分类方法、装置和计算机可读存储介质。该方法包括：获取传感器清单，传感器清单中包括多个传感器，各传感器用于监控半导体机台参数；遍历传感器清单，并获取传感器清单中的目标传感器在近期内获取的FDC数据；在目标传感器在近期内获取的FDC数据的数据量大于阈值的情况下，确定FDC数据的分布规律；根据分布规律确定FDC数据的类型。该方案中，直接是由计算机获取FDC数据后进行自动分析判断的，可以规避人为判断的影响，可以实现自动对FDC数据分类，这样可以保证对FDC数据的类型判断的准确率较高，且该方案的效率也较高，进而解决了一些方案中人为对FDC收集到的数据类型进行判断准确率较低的问题。
半导体 fdc 数据分类方法装置计算机可读存储介质

[发明专利]芯片采集方法和芯片定位方法-CN202110026098.8在审
发明人： 陈予郎 -专利权人：长鑫存储技术有限公司
申请日： 2021-01-08 - 公布日： 2022-07-15 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本发明实施例提供一种芯片采集方法和芯片定位方法，其中，检测标准的获取方法，包括：获取待检测图像，待检测图像中存在芯片编码图像，芯片编码图像用于标示半导体芯片；获取数据库中与待检测图像匹配度最高的对照图像的芯片位置信息，芯片位置信息用于标示对照图像中半导体芯片的位置；基于芯片位置信息，获取待检测图像中检测区域的位置，检测区域用于标示出芯片编码图像的位置；基于检测区域的位置，获取检测区域的图像；判断检测区域的图像中是否存在芯片编码图像；若检测区域的图像中存在芯片编码图像，识别芯片编码图像对应的芯片编码，并将芯片编码存储在数据库中；本发明实施例旨在自动化实现芯片托盘上芯片的编码获取。
芯片采集方法定位

[发明专利]异常访问行为检测方法、装置、设备及可读存储介质-CN202110709333.1有效
发明人： 陈予郎 -专利权人：长江存储科技有限责任公司
申请日： 2021-06-25 - 公布日： 2022-07-15 - 主分类号： G06F11/30 文献下载
摘要：本申请提供了一种异常访问行为检测方法、检测装置、检测设备及计算机可读存储介质。上述检测方法包括：获取用户的、包括访问行为、访问路径和用户所在群体的访问数据；由群体中全部用户的历史访问路径确定隶属程度值；以及根据用户所在群体对应于访问路径的隶属程度值检测用户的访问行为是否异常。根据该检测方法，通过用户所在群体中全部用户基于工作业务需求而形成的历史访问路径确定该群体对不同的访问路径的隶属程度值，进而根据该隶属程度值检测用户的访问行为是否异常，可提高异常访问行为检测的效率，减少对访问行为审核的误判率，并提高异常访问行为检测判定的准确率，避免机密或敏感文件外泄。
异常访问行为检测方法装置设备可读存储介质

[发明专利]备用电路修补位置确定方法及装置、集成电路修补方法-CN202011350461.3在审
发明人：仰蕾;陈予郎 -专利权人：长鑫存储技术有限公司
申请日： 2020-11-26 - 公布日： 2022-05-27 - 主分类号： G11C29/00 文献下载
摘要：本公开是关于一种备用电路修补位置确定方法及装置、集成电路修补方法，通过确定待修补芯片的失效位置，并根据该失效位置可以初步分派备用电路的初始修补位置，而根据初始修补位置可以确定潜在失效线路，再根据潜在失效线路可以确定预测修补位置，其中该预测修补位置就是上述较多概率出现新的失效位置的位置，再根据失效位置失效位置和预测修补位置可以确定出备用电路的最终修补位置，从而可以将失效位置和可能出现新的失效位置的预测修补位置同时确定为需要修补的修补位置，以在新的失效位置出现之前即对其进行修补，从而可以减小新的失效位置出现的概率，提高芯片的制程良率。
备用电路修补位置确定方法装置集成电路

1
2
3
下一页»
尾页
共 32 条