[发明专利]封装结构及其形成方法在审

专利信息
申请号: 202010935246.3 申请日: 2020-09-08
公开(公告)号: CN112466861A 公开(公告)日: 2021-03-09
发明(设计)人: 郑心圃;许峯诚;陈硕懋 申请(专利权)人: 台湾积体电路制造股份有限公司
主分类号: H01L25/16 分类号: H01L25/16;H01L21/98
代理公司: 隆天知识产权代理有限公司 72003 代理人: 闫华;傅磊
地址: 中国台*** 国省代码: 台湾;71
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摘要: 本公开一些实施例提供一种封装结构及其形成方法。封装结构包括封装基板、位于封装基板上方的中介层基板以及位于中介层基板上方的多个半导体装置。中介层基板还具有一或多个凹槽,以收容或容纳不被允许安装在中介层基板表面上的附加的半导体装置。凹槽使得整体封装结构更薄。一些收容在中介层基板的凹槽中的半导体装置也可以电连接到中介层基板及/或中介层基板上方的半导体装置,以改善整体封装结构的电性能。
搜索关键词: 封装 结构 及其 形成 方法
【主权项】:
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