[发明专利]碳化硅欧姆接触结构及其制备方法在审

专利信息
申请号: 202010145207.3 申请日: 2020-03-04
公开(公告)号: CN111312811A 公开(公告)日: 2020-06-19
发明(设计)人: 杨程;林科闯;陶永洪 申请(专利权)人: 厦门市三安集成电路有限公司
主分类号: H01L29/45 分类号: H01L29/45;H01L21/04;H01L21/28
代理公司: 北京超成律师事务所 11646 代理人: 郭俊霞
地址: 361100 福建省厦门*** 国省代码: 福建;35
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摘要: 发明提供了一种碳化硅欧姆接触结构及其制备方法,涉及半导体技术领域。碳化硅欧姆接触结构包括p型碳化硅区和在所述p型碳化硅区上方形成的p型欧姆合金层;其中,所述p型欧姆合金层为镍钛铝合金;钛与镍的原子比不低于0.178且不高于0.310;钛与铝的原子比不低于0.171且不高于0.470。碳化硅欧姆接触结构在高温退火后,并不会降低n型与p型中一者的接触性能。
搜索关键词: 碳化硅 欧姆 接触 结构 及其 制备 方法
【主权项】:
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