[发明专利]一种半导体元件及其制备方法有效

专利信息
申请号: 202010131752.7 申请日: 2020-02-29
公开(公告)号: CN111384081B 公开(公告)日: 2023-01-31
发明(设计)人: 刘宇;康赐俊;邱泰玮;王丹云 申请(专利权)人: 厦门半导体工业技术研发有限公司
主分类号: H10B63/00 分类号: H10B63/00;H10N70/20
代理公司: 北京乐知新创知识产权代理事务所(普通合伙) 11734 代理人: 张洋
地址: 361008 福建省厦门市软件*** 国省代码: 福建;35
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摘要: 发明公开了一种半导体元件及其制备方法,所述半导体元件由以下部分组成,包括:下金属互联层,嵌入第一介电层内;RRAM结构单元,设置在所述下金属互联层上,所述RRAM结构单元包括由下而上依次沉积的底部电极、电介质层和顶部电极;所述底部电极与所述下金属互联层电连接;上金属互联层,设置在所述顶部电极上且与所述顶部电极连接。本发明实施例提供的半导体元件,由于将RRAM结构单元直接设置在上金属互联层和下金属互联层之间,且下金属互联层与底部电极连接,因此能够有效降低半导体元件存储区的高度,从而降低了半导体元件内部填充材料出现缝隙的风险。
搜索关键词: 一种 半导体 元件 及其 制备 方法
【主权项】:
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