[发明专利]一种渐开线齿轮样板齿廓测量与修正方法有效
申请号: | 202010030760.2 | 申请日: | 2020-01-13 |
公开(公告)号: | CN111060061B | 公开(公告)日: | 2021-04-02 |
发明(设计)人: | 林家春;滕辰;石照耀 | 申请(专利权)人: | 北京工业大学 |
主分类号: | G01B21/20 | 分类号: | G01B21/20;G01B11/24 |
代理公司: | 北京思海天达知识产权代理有限公司 11203 | 代理人: | 沈波 |
地址: | 100124 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开了一种在粗糙度轮廓仪上进行渐开线齿轮样板齿廓测量并将测量结果应用于样板齿廓修正的方法。渐开线齿轮样板是用作齿轮测量仪器校准的高精度渐开线齿廓的零件,渐开线齿廓的精度将决定仪器的校准精度。但理论上再高精度的渐开线齿轮样板仍然存在加工误差,具有几何意义上的理想渐开线齿形的渐开线样板是不存在的。本发明利用粗糙度轮廓仪获取渐开线齿轮样板齿廓数据,并将测得渐开线齿轮样板齿廓数据与理论渐开线齿廓进行比较,得到渐开线齿轮样板齿廓与理论渐开线的偏差,将该偏差值滤波处理,作为被测渐开线齿轮样板的修正值,在利用该样板进行齿轮测量仪器的校准时使用,从而达到提高齿轮测量仪器校准精度的目的。 | ||
搜索关键词: | 一种 渐开线 齿轮 样板 测量 修正 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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