[发明专利]使用电子束装置的光学设备制造方法有效

专利信息
申请号: 201980083890.8 申请日: 2019-12-17
公开(公告)号: CN113227859B 公开(公告)日: 2023-10-24
发明(设计)人: 卢多维克·戈代;罗格·梅耶·蒂默曼·蒂杰森;卡提克·雷马斯瓦米;杨扬;曼尼瓦南·托塔德里;陈建安 申请(专利权)人: 应用材料公司
主分类号: G02B6/13 分类号: G02B6/13;G02B6/122;G02B6/12
代理公司: 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 代理人: 徐金国;赵静
地址: 美国加利*** 国省代码: 暂无信息
权利要求书: 暂无信息 说明书: 暂无信息
摘要: 本公开内容的方面涉及用于制造波导的装置。在一个实例中,利用成角度的离子源来朝向基板投射离子以形成包括成角度的光栅的波导。在另一个实例中,利用成角度的电子束源来朝向基板投射电子以形成包括成角度的光栅的波导。本公开内容的另外的方面提供了用于利用成角度的离子束源和成角度的电子束源来在波导上形成成角度的光栅的方法。
搜索关键词: 使用 电子束 装置 光学 设备 制造 方法
【主权项】:
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  • 2020-11-18 - 2023-04-18 - G02B6/13
  • 本公开的实施例涉及光子电路制造中的损耗监测。光学制造监测器结构可以被包括在由掩模或制造光罩在晶片上进行制造的设计中。第一组件集合可以在初始制造周期中被形成,其中第一组件集合包括功能性组件和监测器结构。第二组件集合可以通过后续制造过程形成,后续制造过程可能潜在地导致第一组件集合的错误或损坏。监测器结构可以在制造期间(例如,在洁净室中)被实现,以在不会拉出或报废晶片的情况下,检测制造错误。
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