专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]电子聚焦装置和控制方法-CN202010812526.5在审
  • 尹华碧 - 深圳市奥谱太赫兹技术研究院
  • 2020-08-13 - 2020-11-03 - H01J37/317
  • 本发明公开了一种多电子聚焦装置和控制方法,所述多电子聚焦装置包括用以产生电子的热或冷场发射阴极电子源和栅极、电子的分器、提高电子能量的加速透镜、提高电子质量的消相差透镜、对各电子斑的高分辨物镜阵列、对电子位置进行微调的电子偏转器以及控制电子通过的闸,以便于对电子的精准控制,因此在相同面积的圆晶上可以容纳数量更多的电子实现同时曝光,提高了集成电路加工应用中的精度和速度。
  • 电子束聚焦装置控制方法
  • [发明专利]电子流能量密度分布测量系统及方法-CN201910300519.4有效
  • 林峰;赵德陈;张磊;郭超;马旭龙 - 清华大学;天津清研智束科技有限公司
  • 2019-04-15 - 2020-08-14 - G01T1/29
  • 本发明公开了一种电子流能量密度分布测量系统及方法,其中,该系统包括:电子发生偏转聚焦装置用于控制电子的产生、聚焦和偏转;电子能量密度测量装置用于测量漏过电子能量密度测量装置顶部直角缺口的电子流强度,并记录电子的偏转信号;控制器用于控制电子发生偏转聚焦装置产生、聚焦和偏转电子,同时控制电子能量密度测量装置采集电子强度信号和记录电子偏转信号;数据处理装置用于将电子流强度信号根据电子偏转信号构建成二维数据矩阵,以采用二阶微分方法计算获得电子能量密度分布。该系统简化测量装置的加工,无需假定电子能量密度圆周对称,也可以准确测量不规则的电子流能量密度分布。
  • 电子束能量密度分布测量系统方法
  • [发明专利]一种多电子中心送丝的电子加工系统及加工方法-CN201611039005.0有效
  • 于宝海;谢广亮 - 沈阳金锋特种设备有限公司
  • 2016-11-21 - 2019-02-19 - B23K15/00
  • 本发明公开了一种多电子中心送丝的电子加工系统及加工方法,包括:多个电子枪和送丝系统,所述电子枪包括电子发生系统、电子加速系统、电子聚集系统和电子偏转系统,所述送丝系统包括送丝管和送丝嘴,所述送丝嘴连接于送丝管下部,所述送丝管和送丝嘴设于结构中心轴线上,所述多个电子枪沿中心轴线圆周平均点阵分布。本发明可以保证电子在工件表面的各向同性,提高加工工件质量的均匀性,加工过程连续不间断,电子枪结构与中心送丝结构互不干涉,适用于电子焊接,电子熔覆及电子金属3D打印等电子加工领域。
  • 一种电子束中心加工系统方法
  • [实用新型]一种多电子中心送丝的电子加工系统-CN201621269220.5有效
  • 于宝海;谢广亮 - 沈阳金锋特种设备有限公司
  • 2016-11-21 - 2017-05-31 - B23K15/00
  • 本实用新型公开了一种多电子中心送丝的电子加工系统,包括多个电子枪和送丝系统,所述电子枪包括电子发生系统、电子加速系统、电子聚集系统和电子偏转系统,所述送丝系统包括送丝管和送丝嘴,所述送丝嘴连接于送丝管下部,所述送丝管和送丝嘴设于结构中心轴线上,所述多个电子枪沿中心轴线圆周平均点阵分布。本实用新型可以保证电子在工件表面的各向同性,提高加工工件质量的均匀性,加工过程连续不间断,电子枪结构与中心送丝结构互不干涉,适用于电子焊接,电子熔覆及电子金属3D打印等电子加工领域。
  • 一种电子束中心加工系统
  • [实用新型]电子聚焦装置-CN202021684033.X有效
  • 尹华碧 - 深圳市奥谱太赫兹技术研究院
  • 2020-08-13 - 2021-03-02 - H01J37/317
  • 本实用新型公开了一种多电子聚焦装置,该系统包括用以产生电子的热或冷场发射阴极电子源和栅极、电子的分器、提高电子能量的加速透镜、提高电子质量的消相差透镜、对各电子斑的高分辨物镜阵列、对电子位置进行微调的电子偏转器以及控制电子通过的闸,以便于对电子的精准控制,因此在相同面积的圆晶上可以容纳数量更多的电子实现同时曝光,提高了集成电路加工应用中的精度和速度。
  • 电子束聚焦装置
  • [发明专利]电子流强测量设备及测量方法-CN201810876585.1有效
  • 盖炜 - 北京铭杰医疗科技有限公司
  • 2018-08-03 - 2021-05-11 - G01T1/29
  • 本发明实施例涉及医疗设备,公开了一种电子流强测量设备及测量方法。本发明中,电子流强测量设备,用于测量电子医疗设备的电子流强,且电子医疗设备包括:用于发射电子电子发射装置、与电子发射装置连接的流针;电子流强测试设备包括:感应装置,用于感应通过流针的电子所产生的磁场,并在感应到磁场后输出电信号;信号处理装置,与感应装置电性连接,用于接收感应输出的电信号,并用于根据电信号的强度得出流过流针的电子流强。与现有技术相比,使得电子医疗设备产生的电子的流强可以获取。
  • 电子束测量设备测量方法
  • [发明专利]电子照射设备和方法-CN00809466.7无效
  • 内藤仪彦 - 株式会社荏原制作所
  • 2000-06-30 - 2002-07-10 - B01D53/00
  • 一种电子照射设备采用电子照射燃烧废气以从废气中去除有毒成分。电子照射设备包括用于发射电子电子源(12)、用于将从电子源发射的电子加速的加速管(13)、通过将磁场施加到加速管(13)中形成高能量的电子以控制电子直径的聚焦电磁铁(16)、通过将磁场施加到电子以偏转和扫描电子的电磁铁(17、18)、以及允许电子从那里经过的照射窗口(20)。电子由聚焦电磁铁(16)聚焦在聚焦点,使得电子收敛一次并且随后发散,然后经过照射窗口(20)向外发射。
  • 电子束照射设备方法
  • [发明专利]一种基于涡旋圆艾里的激增自聚焦电子生成方法及系统-CN202211330455.0有效
  • 邓冬梅;蔡学震;唐惠琳 - 华南师范大学
  • 2022-10-28 - 2023-03-24 - H01J37/21
  • 本发明公开了一种基于涡旋圆艾里的激增自聚焦电子生成方法及系统,电子枪发射电子电子透射过一个纳米全息衍射图,纳米全息衍射图的图样经过计算进行立方相位调制,使透射过的电子被调制成圆艾里电子;圆艾里电子再经过一个叉形衍射全息图,在圆艾里电子中心轴处生成涡旋,得到带有中心涡旋的圆艾里电子,即为涡旋圆艾里电子;涡旋圆艾里电子再通过磁透镜聚焦,涡旋圆艾里波包在焦平面上形成并且焦平面开始记录涡旋圆艾里电子的传播;通过透射电子显微镜观察到涡旋圆艾里电子的横截面本发明能够很好地控制圆艾里电子的初始场,便于调控参数;生成的电子相比于其他电子具有更强的聚焦能力,并且带有轨道角动量。
  • 一种基于涡旋圆艾里激增自聚焦电子束生成方法系统
  • [发明专利]涂层装置和方法-CN201910618356.4有效
  • 卡斯滕·迪乌斯 - 冯·阿登纳资产股份有限公司
  • 2019-07-10 - 2022-10-28 - C23C14/30
  • 根据不同的实施方式,涂层装置(100至700)可以具有:用于提供电子(23)的电子枪(112);用于捕集电子(23)的电子捕集器(202);用于驱控电子枪(112)和/或电子捕集器(202)的控制装置(204),其中,控制装置(204)设置用于,转换在多种配置之间的驱控,多种配置中:在第一种配置中,电子(23)对准电子捕集器(202);以及在第二种配置中,电子(23)从电子捕集器(
  • 涂层装置方法
  • [发明专利]一种多束电子斑的测量装置及方法-CN202210842745.7在审
  • 张利新;王岩;赵伟霞;刘俊标;殷伯华;王鹏飞;韩立 - 中国科学院电工研究所
  • 2022-07-18 - 2022-10-18 - H01J37/244
  • 本发明涉及多束电子斑测量技术领域,提供了一种多束电子斑的测量装置及方法,该装置包括真空腔室以及形成于真空腔室内的多束电子,至少包括:刀口件,可移动的设置在真空腔室内,且位于多束电子的照射路径上,刀口件上具有适于电子通过的刀口,刀口件能够在移动过程中对多束电子中的至少部分电子进行遮挡;电子收集结构,位于真空腔室内,且位于刀口件的下游,适于收集从刀口射出的电子,并将其转化为电信号;数据处理模块,与电子收集结构信号连接,适于接收电信号,并根据电信号获取各个电子斑分布与斑大小。该测量装置,可以获取各个电子斑分布与斑大小,满足观察和测量的需求。
  • 一种电子束测量装置方法

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