[发明专利]自旋力矩转移(STT)-磁性随机存取存储器(MRAM)之氮化物盖层在审

专利信息
申请号: 201980007466.5 申请日: 2019-01-25
公开(公告)号: CN111615756A 公开(公告)日: 2020-09-01
发明(设计)人: 裘地·玛丽·艾维塔;真杰诺;童儒颖;维格纳许·桑达;朱健;刘焕龙 申请(专利权)人: 台湾积体电路制造股份有限公司
主分类号: H01L43/08 分类号: H01L43/08;H01L43/10;H01L43/12;G11C11/16
代理公司: 隆天知识产权代理有限公司 72003 代理人: 张福根;付文川
地址: 中国台*** 国省代码: 台湾;71
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摘要: 公开一种磁性穿隧结(MTJ),其中自由层(FL)与第一金属氧化物(垂直非等向性增强层)及第二金属氧化物(穿隧阻障)的第一及第二界面各别产生垂直磁非等向性(PMA)以增加热稳定性。在一些实施例中,盖层为导电金属氮化物(例如,MoN)相对于第一界面接触垂直非等向性增强层的相反表面,相较于TiN盖层,减少氧及氮的相互扩散并保持可接受的电阻面积(RA)乘积。在其他实施例中,盖层可以包括绝缘氮化物,例如AlN,其与导电金属合金以最小化RA。此外,可以在盖层与垂直非等向性增强层之间插入金属缓冲层。因此,减少电性短路并且增加磁阻比。
搜索关键词: 自旋 力矩 转移 stt 磁性 随机存取存储器 mram 氮化物 盖层
【主权项】:
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