[实用新型]一种半导体芯片分选测试用减震装置有效
| 申请号： | 201922334755.6 | 申请日： | 2019-12-24 |
| 公开（公告）号： | CN211371839U | 公开（公告）日： | 2020-08-28 |
| 发明（设计）人： | 吕印普;艾瑞杰 | 申请（专利权）人： | 河南逸云国芯科技有限公司 |
| 主分类号： | F16M11/42 | 分类号： | F16M11/42;F16M11/24;F16F15/023;F16F15/04;F16F15/02 |
| 代理公司： | 新乡市平原智汇知识产权代理事务所(普通合伙) 41139 | 代理人： | 林海 |
| 地址： | 453000 河南省新乡市新乡县*** | 国省代码： | 河南;41 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种半导体芯片分选测试用减震装置，包括测试机，测试机的底部设置有支撑台，支撑台的顶部通过螺栓固定有四个减震器，减震器包括空筒，空筒的内部设置有贯穿空筒的减震杆，减震杆的顶部和空筒的底部均焊接有固定块，且减震杆的外壁套接有减震弹簧，其中一个固定块的顶部设置有连接钢板，且固定块和连接钢板之间设置有气垫，支撑台的底部设置有四个万向轮，且支撑台的两侧均通过螺栓固定有限位板，两个限位板的底部两侧均设置有调节装置。本实用新型为测试机提供一个很好的减震作用，从而有效地防止测试机在工作的过程中因发生震动而造成部分元器件损坏，进而增加了测试机的使用寿命，增加测试机的整体稳定性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 半导体 芯片 分选 测试 减震 装置 | ||
【主权项】：
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