[实用新型]半导体测试设备的扩展装置以及利用其的系统有效
| 申请号： | 201921615165.4 | 申请日： | 2019-09-26 |
| 公开（公告）号： | CN211577949U | 公开（公告）日： | 2020-09-25 |
| 发明（设计）人： | 杨维平;颜宝泉 | 申请（专利权）人： | 英特尔产品（成都）有限公司;英特尔公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00 |
| 代理公司： | 北京永新同创知识产权代理有限公司 11376 | 代理人： | 吕玥;冯园园 |
| 地址： | 611731 四川省成*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 提供了一种半导体测试设备的扩展装置，包括：分配器，其包括输入端和第一输出端，所述输入端被连接到图像采集装置并且用于从所述图像采集装置接收所述半导体测试设备测试的电子部件的图像，所述第一输出端用于输出接收到的图像；图像存储器，其被连接到所述第一输出端，用于存储从所述第一输出端输出的图像；以及评估装置，其与所述图像存储器连接，用于针对所存储的每幅图像生成评分，所述评分指示在对应的一幅图像中的所述电子部件是否具有缺陷。该扩展装置能够连接到现有的半导体测试设备，以提供对现有的半导体测试设备的改进。 | ||
| 搜索关键词： | 半导体 测试 设备 扩展 装置 以及 利用 系统 | ||
【主权项】：
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