[发明专利]用于生成半导体检测报告的方法及装置有效
| 申请号： | 201911283274.5 | 申请日： | 2019-12-13 |
| 公开（公告）号： | CN111062920B | 公开（公告）日： | 2023-06-20 |
| 发明（设计）人： | 冯博豪 | 申请（专利权）人： | 北京百度网讯科技有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G01N21/88;G01N25/72 |
| 代理公司： | 北京英赛嘉华知识产权代理有限责任公司 11204 | 代理人： | 王达佐;马晓亚 |
| 地址： | 100085 北京市*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本公开的实施例公开了用于生成半导体检测报告的方法及装置，涉及云计算领域。该方法的一具体实施方式包括：获取待处理半导体的待处理图像，上述待处理图像包括表面图像、红外热分布图像；响应于上述待处理图像中表面图像存在缺陷图像，根据上述缺陷图像获取缺陷类型信息；基于上述缺陷类型信息查询上述红外热分布图像中的异常发热点；响应于上述红外热分布图像中不存在异常发热点，根据上述缺陷类型信息生成对应上述待处理半导体的检测报告。该实施方式提高了检测报告的准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 生成 半导体 检测 报告 方法 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京百度网讯科技有限公司，未经北京百度网讯科技有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201911283274.5/，转载请声明来源钻瓜专利网。
