[发明专利]一种快速寻找NAND闪存最佳重读电压的方法在审
申请号: | 201910722462.7 | 申请日: | 2019-08-06 |
公开(公告)号: | CN110797068A | 公开(公告)日: | 2020-02-14 |
发明(设计)人: | 原顺 | 申请(专利权)人: | 广州妙存科技有限公司 |
主分类号: | G11C16/26 | 分类号: | G11C16/26;G11C16/34 |
代理公司: | 44205 广州嘉权专利商标事务所有限公司 | 代理人: | 郑晨鸣 |
地址: | 510663 广东省广州市*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明提出一种快速寻找NAND闪存最佳重读电压的方法,包括以下步骤:A、分别确定在所有可能的读电压值下,NAND闪存中的至少一页中的所有数据出现位反转的数量;B、将出现最小位反转数量所对应的一个或多个读电压值设置为第一读电压数据集,并且将第一读电压数据集中的所有数据值的中值作为最佳重读电压;C、若所述最佳重读电压在所述NAND闪存中重读电压范围内,则将所述最佳重读电压应用到所述NAND闪存。 | ||
搜索关键词: | 读电压 位反转 电压应用 快速寻找 数据集中 数据集 | ||
【主权项】:
1.一种快速寻找NAND闪存最佳重读电压的方法,其特征在于,包括以下步骤:/nA、分别确定在所有可能的读电压值下,NAND闪存中的至少一页中的所有数据出现位反转的数量;/nB、将出现最小位反转数量所对应的一个或多个读电压值设置为第一读电压数据集,并且将第一读电压数据集中的所有数据值的中值作为最佳重读电压;/nC、若所述最佳重读电压在所述NAND闪存中重读电压范围内,则将所述最佳重读电压应用到所述NAND闪存。/n
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