[发明专利]晶片封装体及其制造方法有效

专利信息
申请号: 201910407970.6 申请日: 2019-05-15
公开(公告)号: CN110491859B 公开(公告)日: 2021-05-25
发明(设计)人: 郑家明;李柏汉;杨惟中;吴冠荣;张恕铭 申请(专利权)人: 精材科技股份有限公司
主分类号: H01L23/538 分类号: H01L23/538;H01L21/768;G06K9/00
代理公司: 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 代理人: 刘新宇
地址: 中国台湾桃园市中*** 国省代码: 台湾;71
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摘要: 发明提供一种晶片封装体及其制造方法。在所述晶片封装体中,第一接合结构位于第一重布线层上。第一晶片包括邻近一主动面的一感测区及一导电垫。第一晶片通过第一接合结构接合于第一重布线层上,且第一接合结构位于导电垫与第一重布线层之间。模塑料层覆盖第一重布线层且环绕第一晶片。第二重布线层位于模塑料层及第一晶片上,且第二重布线层电性连接至第一重布线层。第二晶片堆叠于第一晶片的非主动面上,且第二晶片通过第二重布线层、第一重布线层及第一接合结构电性连接至第一晶片。本发明能够简化制程步骤、减少制造时间且大幅降低制造成本。
搜索关键词: 晶片 封装 及其 制造 方法
【主权项】:
1.一种晶片封装体,包括:/n第一重布线层;/n第一接合结构,其中该第一接合结构位于该第一重布线层上;/n第一晶片,其中该第一晶片包括邻近主动面的感测区及导电垫,且其中该第一晶片通过该第一接合结构接合于该第一重布线层上,且该第一接合结构位于该导电垫与该第一重布线层之间;/n模塑料层,其中该模塑料层覆盖该第一重布线层且环绕该第一晶片;/n第二重布线层,其中该第二重布线层位于该模塑料层及该第一晶片上,且该第二重布线层电性连接至该第一重布线层;以及/n第二晶片,其中该第二晶片堆叠于该第一晶片的非主动面上,且该第二晶片通过该第二重布线层、该第一重布线层及该第一接合结构电性连接至该第一晶片。/n
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