[发明专利]一种可同时测定光源波长及光强的CMOS集成电路在审

专利信息
申请号: 201910361176.2 申请日: 2019-04-30
公开(公告)号: CN110057455A 公开(公告)日: 2019-07-26
发明(设计)人: 施朝霞;李如春;吴丽丽 申请(专利权)人: 浙江工业大学
主分类号: G01J9/00 分类号: G01J9/00;G01J1/44
代理公司: 杭州天正专利事务所有限公司 33201 代理人: 王兵;黄美娟
地址: 310014 浙江省*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 可同时测定光源波长及光强的CMOS集成电路,包括掩埋双PN结光电二极管传感单元(1)、单结光电流提取放大电路(2)、双结光电流提取放大电路(3)、单结光电流差分放大电路(4)、高灵敏电流电压转换电路(5)、第一单结光电流对数电压转换电路(6)、第二单结光电流对数电压转换电路(7)、电压差分电路(8)。本发明利用垂直堆叠的不同结深PN结光电二极管的光电流与光波长及光强的依赖关系,通过对不同结深PN结光电二极管电流求比值和求和的两种处理方法,可同时测定光源的波长及光强,实现了对未知光源的多参数单片检测。
搜索关键词: 光电流 单结 光强 放大电路 对数电压转换电路 光电二极管 光源波长 结深 光源 电流电压转换电路 光电二极管电流 传感单元 垂直堆叠 光电流差 依赖关系 电压差 多参数 分电路 光波长 波长 求和 单片 双结 灵敏 掩埋 检测
【主权项】:
1.可同时测定光源波长及光强的CMOS集成电路,其特征在于:包括掩埋双PN结光电二极管传感单元(1)、单结光电流提取放大电路(2)、双结光电流提取放大电路(3)、单结光电流差分放大电路(4)、高灵敏电流电压转换电路(5)、第一单结光电流对数电压转换电路(6)、第二单结光电流对数电压转换电路(7)、电压差分电路(8);所述掩埋双PN结光电二极管传感单元(1)第一输出端(1b1)与单结光电流提取放大电路(2)输入端(2a)相连,第二输出端(1b2)与双结光电流提取放大电路(3)输入端(3a)相连;掩埋双PN结光电二极管传感单元(1)由由浅PN结光电二极管D1和深PN结光电二极管D2组成,所述光电二极管D1与所述光电二极管D2共阴极连接,并引出第二输出端(1b2),所述光电二极管D2阳极接地,所述光电二极管D1阳极引出第一输出端(1b1);所述单结光电流提取放大电路(2)输入端(2a)与掩埋双PN结光电二极管传感单元(1)第一输出端(1b1)相连,第一输出端(2b1)与单结光电流差分放大电路(4)输入端(4a)相连,第二输出端(2b2)与第一单结光电流对数电压转换电路(6)输入端(6a)相连;单结光电流提取放大电路(2)由NMOS管N1、N2、N3、N4、N5、N6、N7和PMOS管P1、P2组成;所述PMOS管P1源极接电源VDD,漏极接所述NMOS管N1漏极,所述NMOS管N1栅漏短接,源极接地,所述PMOS管P2源极接所述PMOS管P1栅极,并作为输入端(2a),栅极接所述PMOS管P1漏极,所述NMOS管N4、N5、N7源极短接并接地,所述NMOS管N4栅漏短接,并与所述NMOS管N5、N7的栅极相连,所述NMOS管N2栅漏短接,并与所述NMOS管N3、N6的栅极相连,所述NMOS管N2漏极与所述PMOS管P2漏极相连,源极与所述NMOS管N4栅极相连,所述NMOS管N3漏极作为第一输出端(2b1),源极与所述NMOS管N5漏极相连,所述NMOS管N6漏极作为第二输出端(2b2),源极与所述NMOS管N7漏极相连;所述双结光电流提取放大电路(3)输入端(3a)与掩埋双PN结光电二极管传感单元(1)第二输出端(1b2)相连,第一输出端(3b1)与单结光电流差分放大电路(4)输入端(4a)相连,第二输出端(3b2)与高灵敏电流电压转换电路(5)输入端(5a)相连;双结光电流提取放大电路(3)由NMOS管N8、N9和PMOS管P3、P4、P5、P6、P7、P8、P9组成;所述PMOS管P3、P4、P5、P8源极短接并接电源VDD,所述PMOS管P3栅漏短接,所述NMOS管N8栅漏短接,并与所述PMOS管P3的漏极和所述NMOS管N9的栅极相连,所述NMOS管N8的源极接地,所述NMOS管N9源极接输入端(3a),所述PMOS管P4栅漏短接,并与所述PMOS管P5、P8的栅极相连,所述PMOS管P6的栅漏短接,并与所述PMOS管P7、P9的栅极相连,所述PMOS管P4的漏极与所述PMOS管P6的源极相连,所述PMOS管P5的漏极与所述PMOS管P7的源极相连,所述PMOS管P8的漏极与所述PMOS管P9的源极相连,所述PMOS管P6的漏极与所述NMOS管N9的漏极相连,所述PMOS管P7的漏接接第一输出端(3b1),所述PMOS管P9的漏极接第二输出端(3b2);所述单结光电流差分放大电路(4)输入端(4a)与单结光电流提取放大电路(2)第一输出端(2b1)、双结光电流提取放大电路(3)第一输出端(3b1)短接相连,输出端(4b)与第二单结光电流对数电压转换电路(7)输入端(7a)相连;单结光电流差分放大电路(4)由NMOS管N10、N11、N12、N13、N14、N15与PMOS管P10、P11组成;所述NMOS管N12、N13、N15源极短接并接地,所述NMOS管N12栅漏短接,并与所述NMOS管N13、N15的栅极相连,所述NMOS管N10的栅漏短接,作为输入端(4a),并与所述NMOS管N11、N14的栅极相连,所述NMOS管N10的源极与所述NMOS管N12的漏极相连,所述NMOS管N11的源极与所述NMOS管N13的漏极相连,所述NMOS管N14的源极与所述NMOS管N15的漏极相连,所述PMOS管P10栅漏短接,并与所述PMOS管P11的源极相连,所述PMOS管P10的源极接电源VDD,所述PMOS管P11栅漏短接并与所述NMOS管N11漏极相连,所述NMOS管N14的漏极作为输出端(4b);所述高灵敏电流电压转换电路(5)输入端(5a)与双结光电流提取放大电路(3)的第二输出端(3b2)相连,输入端RESET为外接复位信号,输出端(5b)为VG输出;高灵敏电流电压转换电路(5)由NMOS管N16、N17、N18、N19和PMOS管P12、P13、P14、P15及电容C1组成;所述NMOS管N19、N20源极短接并接地,所述PMOS管P12、P13源极短接并接电源VDD,所述PMOS管P13栅漏短接,并与所述PMOS管P12的栅极和所述PMOS管P15的源极相连,所述PMOS管P15栅漏短接,并与所述PMOS管P14的栅极和所述NMOS管N18的栅漏相连,所述PMOS管P12的漏极与所述PMOS管P14的源极相连,所述PMOS管P14的漏极与所述NMOS管N17的漏极相连,所述NMOS管N17、N18的栅极相连,所述NMOS管N17的源极与所述NMOS管N19的漏极相连,所述NMOS管N20的栅漏短接,并与所述NMOS管N18的源极相连,所述电容C1的一端与所述NMOS管N19的栅极相连,另一端与所述NMOS管N17的漏极相连,并作为输出端(5b),所述NMOS管N16并联在所述电容C1两端,其源极与漏极分别与所述电容C1的两端相连,所述NMOS管N16的栅极接输入端RESET,所述NMOS管N19的栅极作为输入端(5a);第一单结光电流对数电压转换电路(6)的输入端(6a)与单结光电流提取放大电路(2)的第二输出端(2b2)相连,输出端(6b)与电压差分电路(8)的第一输入端(8a1)相连;第一单结光电流对数电压转换电路(6)由NMOS管N21、N22、N23和PMOS管P16、P17、P18组成;所述NMOS管N22、N23的源极短接并接地,所述NMOS管N22的栅极和所述NMOS管N21的源极相连,并作为输入端(6a),所述NMOS管N21的漏极与所述PMOS管P16、P17的源极短接并接电源VDD,所述NMOS管N21的栅极与所述PMOS管P16的漏极和所述NMOS管N22的漏极相连,并作为输出端(6b),所述PMOS管P17栅漏短接,并与所述PMOS管P18的源极相连,所述PMOS管P18栅漏短接并与栅漏短接的NMOS管N23的栅极相连,所述PMOS管P16的栅极与所述NMOS管N23的栅极相连;第二单结光电流对数电压转换电路(7)的输入端(7a)与单结光电流差分放大电路(4)的输出端(4b)相连,输出端(7b)与电压差分电路(8)的第二输入端(8a2)相连;第二单结光电流对数电压转换电路(7)由NMOS管N24、N25、N26和PMOS管P19、P20、P21组成;所述NMOS管N25、N26的源极短接并接地,所述NMOS管N25的栅极和所述NMOS管N24的源极相连,并作为输入端(7a),所述NMOS管N24的漏极与所述PMOS管P19、P20的源极短接并接电源VDD,所述NMOS管N24的栅极与所述PMOS管P19的漏极和所述NMOS管N25的漏极相连,并作为输出端(7b),所述PMOS管P20栅漏短接,并与所述PMOS管P21的源极相连,所述PMOS管P21栅漏短接并与栅漏短接的NMOS管N26的栅极相连,所述PMOS管P19的栅极与所述NMOS管N26的栅极相连;所述电压差分电路(8)的第一输入端(8a1)与第一单结光电流对数电压转换电路(6)的输出端(6b)相连,第二输入端(8a2)与第二单结光电流对数电压转换电路(7)的输出端(7b)相连,输出端(8b)为VB输出;电压差分电路(8)由NMOS管N27、N28、N29、N30和PMOS管P22、P23、P24组成;所述PMOS管P22、P23、P24源极短接并接电源VDD,所述PMOS管P23栅漏短接并与所述PMOS管P22栅极相连,所述PMOS管P22漏极与所述NMOS管N27漏极相连,并作为输出端(8b),所述NMOS管N27栅极作为第一输入端(8a1),所述NMOS管N27、N28源极相连,并与所述NMOS管N29的漏极相连,所述NMOS管N28的漏极与所述PMOS管P23的漏极相连,所述NMOS管N28的栅极作为第二输入端(8a2),所述NMOS管N29、N30的源极相连并接地,所述NMOS管N29、N30的栅极相连,所述NMOS管N30的栅漏短接,所述PMOS管P24的栅漏短接,并与所述NMOS管N30的栅极相连。
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  • 赵承良;卢兴园;曾军;朱新蕾;刘磊鑫;蔡阳健 - 苏州大学
  • 2017-10-19 - 2019-06-25 - G01J9/00
  • 本发明公开了一种测量部分相干涡旋光束复相干度的方法及系统,该方法包括:记录待部分相干涡旋光束的光强;对待测部分相干涡旋光束引入三次不同相位赋值的扰动;对扰动后的待测部分相干涡旋光束进行傅里叶变换,并记录三次不同相位赋值下傅里叶平面的光强;根据三次不同相位赋值和三次不同相位赋值下傅里叶平面的光强,通过反傅里叶变换得到待测部分相干涡旋光束的交叉谱密度函数;利用交叉谱密度函数和待测部分相干涡旋光束的光强得到待测部分相干涡旋光束的复相干度。从复相干度的相位分布图中可以直接观测相干奇点,从而得到待测部分相干涡旋光束的拓扑荷数大小和正负信息,对激光加工、光镊以及原子冷却等领域具有重要意义。
  • 航标灯频率电子检测器-201822019651.1
  • 李登峰;费巍 - 福州大学
  • 2018-12-04 - 2019-06-21 - G01J9/00
  • 本实用新型涉及航标灯维修设备技术领域,具体为一种航标灯频率电子检测器。一种航标灯频率电子检测器,包括伸缩管,与所述伸缩管一端连接的波纹管,与所述伸缩管另一端连接的控制装置,所述波纹管另一端连接有检测罩,所述检测罩安装有光敏传感器,所述光敏传感器通过数据线与所述控制装置连接。航标灯频率电子检测器可以无需拆卸航标灯,亦无须爬上灯塔,便可对航标灯的闪光频率进行高效精确的检测,提高了航标灯维修检查的效率。
  • 光束正向湍流传输漂移角与反向传输到达角相关系数测量方法-201711174454.0
  • 陈纯毅;杨华民;倪小龙;蒋振刚 - 长春理工大学
  • 2017-11-22 - 2019-05-17 - G01J9/00
  • 本发明公开一种光束正向湍流传输漂移角与反向传输到达角的相关系数测量方法,其特征在于:使用对流式大气湍流模拟装置在室内模拟大气湍流,光束传输经过室内模拟的大气湍流,产生光束漂移和到达角变化。首先分别测量沿相同光轴反向传输的两束激光的光到达角和光束漂移角,并把测量结果保存到计算机文件中;然后,根据保存在计算机文件中的测量结果,利用统计分析方法得出光束正向湍流传输漂移角与反向传输到达角的相关系数。
  • 一种测量太赫兹波长的装置及方法-201710391081.6
  • 姜斌;吴斌;杨延召;王恒飞;应承平 - 中国电子科技集团公司第四十一研究所
  • 2017-05-27 - 2019-05-17 - G01J9/00
  • 本发明涉及一种测量太赫兹波长的装置及方法。其方法是太赫兹光源发出太赫兹光经过可调光阑的阑孔,变成一束太赫兹光,再经过硅棱镜,由于不同波长的太赫兹光在硅棱镜中的折射率不同,因此,不同波长的太赫兹光经过硅棱镜后从不同的位置出射,太赫兹探测器在一维位移台上,通过计算机控制,对不同位置出射的太赫兹光进行探测,记录探测到太赫兹光的位置,就可以计算出太赫兹波的波长,如果是一个波长段内连续的太赫兹光,通过两个极限位置的探测,可以得到连续波长的太赫兹波的波长段。它可以扫描一个波段的太赫兹波;制作方便,精确度高;测量速度快。
  • 光学波前量测装置与方法-201510956066.2
  • 梁振升 - 九骅科技股份有限公司
  • 2015-12-18 - 2019-05-07 - G01J9/00
  • 本发明提供一种光学波前量测装置与方法,依据该光学波前量测装置,光学空间调制器产生相异的多个通孔,使多个光线通过该多个通孔后,形成多个光型。该多个光型通过待测镜片与无穷物镜模组,并且调整无穷物镜模组与待测镜片的距离,使近似平行光的该多个光型进入波前感应装置。波前感应装置依据该多个光型,撷取多个波前感应图像(WS图像),其中该多个WS图像不具有光点重叠现象。计算机依据一演算法拼接该多个WS图像,以求得一波前变化信息,并依据该波前变化信息重建一波前。通过实施本发明,能够解决高度像差下的横向位移所产生的光点重叠现象的问题,适合于检测非球面镜片。
  • 基于双螺旋点扩散函数的波前传感器、探测方法及系统-201611006492.0
  • 于斌;李四维;曹博;屈军乐 - 深圳大学
  • 2016-10-26 - 2019-04-30 - G01J9/00
  • 本发明公开了基于双螺旋点扩散函数的波前传感器、探测方法及系统,其中,所述基于双螺旋点扩散函数的波前探测方法通过微透镜阵列对待测波前进行聚焦,获得微透镜阵列上所有孔径的高斯点阵图;通过双螺旋点扩散函数系统将所述高斯点阵图转换为双螺旋点阵图;根据所述高斯点阵图和双螺旋点阵图获得混合波前斜率值;对所述混合波前斜率值进行波前重构,得到待测的波前信息,通过将探测到的高斯光斑转换为双螺旋的形式可以获得探测波前经微透镜阵列后的像点三维空间坐标精确信息,能抑制波前离焦误差对于重构精度的影响,在目标物体产生轴向位移的时候,依然能够得到高的探测精度,在保证探测精度的前提下大大提高了传感器轴向的探测范围。
  • 一种基于三F-P标准具的高精度波长测量装置-201821590343.8
  • 李裔;李红梅;卢笔伦 - 中国计量大学
  • 2018-09-28 - 2019-04-23 - G01J9/00
  • 本实用新型专利公开了一种基于三F‑P标准具的高精度波长测量装置。入射光经过一分二光纤耦合器后分成两束光,一束光入射到光电探测器上作为参考光,另一束光入射到一分四光纤耦合器上,将光平均分成四束,一束光经线性滤波器后入射到光电探测器上,另三路光经由对应的多光纤准直器后入射到对应的F‑P标准具上,产生对应的透射光和对应的反射光,产生的透射光经过对应的单光纤准直器后,再由光电探测器采集相应的透射光的光强,产生的反射光反射回到多光纤准直器后,经光电探测器采集对应反射光的光强,最后,将八路光电探测器采集的光强信号由采集卡采集对应的电压信号,并输入到电脑上进行分析计算得出波长。
  • 时域相位恢复全光纤激光脉冲弱相位测量装置和测量方法-201610028749.6
  • 乔治;汪小超;姚玉东;井媛媛;范薇 - 中国科学院上海光学精密机械研究所
  • 2016-01-15 - 2019-04-19 - G01J9/00
  • 一种时域相位恢复全光纤激光脉冲弱相位测量装置和测量方法,装置构成包括:沿待测激光脉冲输入方向是光纤分束器,该光纤分束器将待测激光脉冲分为强、弱两束光,沿强光束方向依次是可调光纤延时器、高速光纤相位调制器、色散光纤和示波器,沿弱光束方向依次是高速PIN光电管、任意波形发生器、电信号放大器,该电信号放大器的输出端接所述的高速光纤相位调制器的调制输入端。本发明利用全光纤结构对激光脉冲进行相位调制与色散传输,具有结构紧凑、简单灵活的特点,并且不同于其它激光脉冲相位测量方式,本发明可以测量具有弱相位的皮秒或者纳秒激光脉冲,适用于高重复频率以及低重复频率情况下。
  • 一种表面等离子体激元产生切伦科夫辐射的装置-201710884713.2
  • 刘梅 - 南京誉凯电子科技有限公司
  • 2017-09-26 - 2019-04-02 - G01J9/00
  • 本发明公开了一种表面等离子体激元产生切伦科夫辐射的装置,属于电磁波辐射的产生检测领域。具体是一种利用自由电子注激励样品产生表面等离子体激元并由介质转化为可见光波段切伦科夫辐射的装置,包括:电子发射系统、电子接收系统、真空腔室、样品架系统、束流大小测试系统、电控位移控制系统、光谱仪系统、抽真空系统。该装置实现了由电子学和光子学相结合的切伦科夫辐射的产生和探测。
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