[发明专利]芯片贴装膜在审
| 申请号： | 201910348087.4 | 申请日： | 2019-04-28 |
| 公开（公告）号： | CN110473793A | 公开（公告）日： | 2019-11-19 |
| 发明（设计）人： | 冈村卓;中村胜;淀良彰 | 申请（专利权）人： | 株式会社迪思科 |
| 主分类号： | H01L21/56 | 分类号： | H01L21/56 |
| 代理公司： | 11127 北京三友知识产权代理有限公司 | 代理人： | 乔婉;于靖帅<国际申请>=<国际公布>= |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 提供芯片贴装膜，能够抑制对被加工物进行加工时的所需时间，并且能够按照每个器件芯片容易地进行分割。芯片贴装膜(115)用于将从晶片分割的器件芯片固定于被固定部件，在该芯片贴装膜的内部形成有作为断裂起点的改质层(20)。该改质层(20)形成为点状。芯片贴装膜(115)层叠在扩展带(117)上而与该扩展带(117)一体地成型。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片贴装 器件芯片 改质层 被固定部件 被加工物 断裂起点 晶片分割 一体地 点状 成型 分割 加工 | ||
【主权项】：
1.一种芯片贴装膜，其特征在于，/n该芯片贴装膜在内部形成有作为断裂起点的改质层。/n
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理；集成电路器件或其特殊部件的制造
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