[发明专利]三维存储器件及其制备方法在审
申请号: | 201910252511.5 | 申请日: | 2019-03-29 |
公开(公告)号: | CN110112133A | 公开(公告)日: | 2019-08-09 |
发明(设计)人: | 赵新梅;耿静静;王香凝;王攀;张慧;肖梦 | 申请(专利权)人: | 长江存储科技有限责任公司 |
主分类号: | H01L27/11524 | 分类号: | H01L27/11524;H01L27/11556;H01L27/1157;H01L27/11582;H01L21/768 |
代理公司: | 广州三环专利商标代理有限公司 44202 | 代理人: | 郝传鑫;熊永强 |
地址: | 430074 湖北省武汉市洪山区东*** | 国省代码: | 湖北;42 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提供一种三维存储器件及其制备方法。该方法包括:提供形成有堆叠结构的衬底,所述堆叠结构包括堆栈层和位于所述堆栈层上的掩膜层,所述堆叠结构具有贯穿所述堆栈层和所述掩膜层的沟道孔,所述沟道孔包括至少穿过所述掩膜层的表层的掩膜部分和穿过所述堆栈层的堆栈部分,沿所述掩膜部分指向至所述堆栈部分的纵向方向上,所述掩膜部分的孔径逐渐增大,所述掩膜部分的孔径大于所述堆栈部分的孔径,且所述掩膜部分的斜度小于所述堆栈部分的斜度;在所述沟道孔形成NAND串。本发明所述三维存储器件的制备方法,减少了三维存储器件的制备步骤,简化三维存储器件的工艺流程,有利于提高三维存储器件的生产效率,进而提高产能。 | ||
搜索关键词: | 三维存储器件 掩膜 堆栈层 堆栈 制备 堆叠结构 掩膜层 沟道 斜度 穿过 生产效率 逐渐增大 工艺流程 产能 衬底 指向 贯穿 | ||
【主权项】:
1.一种三维存储器件的制备方法,其特征在于,包括:提供形成有堆叠结构的衬底,所述堆叠结构包括堆栈层和位于所述堆栈层上的掩膜层,所述堆叠结构具有贯穿所述堆栈层和所述掩膜层的沟道孔,所述沟道孔包括至少穿过所述掩膜层的表层的掩膜部分和穿过所述堆栈层的堆栈部分,沿所述掩膜部分指向所述堆栈部分的纵向方向上,所述掩膜部分的孔径逐渐增大,所述掩膜部分的孔径大于所述堆栈部分的孔径,且所述掩膜部分的斜度小于所述堆栈部分的斜度;在所述沟道孔内形成NAND串。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
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H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
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