[发明专利]自分离氮化镓单晶及其助熔剂法生长方法有效

专利信息
申请号: 201910031985.7 申请日: 2019-01-14
公开(公告)号: CN111434811B 公开(公告)日: 2022-04-08
发明(设计)人: 刘宗亮;徐科;任国强;王建峰 申请(专利权)人: 中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所
主分类号: C30B29/40 分类号: C30B29/40;C30B9/12;C30B19/04
代理公司: 南京利丰知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 32256 代理人: 王茹;王锋
地址: 215123 江苏省苏州市*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种助熔剂法生长自分离氮化镓单晶的方法,包括:采用助熔剂法,以自支撑氮化镓作为籽晶,在所述自支撑氮化镓上生长微孔层;以及利用液相外延方法在所述微孔层上生长获得自分离氮化镓单晶。较之现有技术,本发明通过控制助熔剂法生长氮化镓单晶的生长条件,首先生长一层微孔层,该微孔层不仅可以使籽晶中的应力得到有效释放,而且可以使籽晶中的大部分位错被抑制在该微孔层,从而不会在后续液相外延生长氮化镓单晶中引入应力,还可以在生长后,在该层发生自分离现象,并进一步生长获得了高质量的自分离氮化镓单晶。
搜索关键词: 分离 氮化 镓单晶 及其 熔剂 生长 方法
【主权项】:
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