[发明专利]用于形成三维存储器设备的阶梯结构的方法有效
申请号: | 201880000497.3 | 申请日: | 2018-04-18 |
公开(公告)号: | CN109196644B | 公开(公告)日: | 2019-09-10 |
发明(设计)人: | 周玉婷;肖莉红;许健;李思晢;汤召辉;李兆松 | 申请(专利权)人: | 长江存储科技有限责任公司 |
主分类号: | H01L27/11578 | 分类号: | H01L27/11578;H01L27/11568 |
代理公司: | 北京永新同创知识产权代理有限公司 11376 | 代理人: | 钟胜光 |
地址: | 430074 湖北省武汉市东湖*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | 公开了用于形成三维存储器设备的阶梯结构的方法的实施例。该方法包括:(i)形成交替堆叠结构,所述交替堆叠结构包括沿着垂直方向布置在衬底上的多个层;(ii)去除所述交替堆叠结构的一部分以在所述交替堆叠结构的阶梯区域中形成多个台阶平台;(iii)形成硬掩模层以覆盖所述台阶平台的顶表面;(iv)在所述硬掩模层中形成多个开口以暴露所述台阶平台中的每个台阶平台的一部分;(v)形成光致抗蚀剂层以覆盖所述硬掩模层和所述台阶平台的顶表面;(vi)使用一组相同的修整‑蚀刻工艺来图案化所述光致抗蚀剂层以在所述台阶平台中的每个台阶平台上形成一组阶梯;(vii)去除所述光致抗蚀剂层和所述硬掩模层;并且依次重复(iii),(iv),(v),(vi)和(vii)。 | ||
搜索关键词: | 台阶平台 交替堆叠 硬掩模层 光致抗蚀剂层 三维存储器 阶梯结构 顶表面 去除 垂直方向布置 阶梯区域 蚀刻工艺 图案化 衬底 覆盖 修整 开口 暴露 重复 | ||
【主权项】:
1.一种用于形成三维(3D)存储器设备中的阶梯结构的方法,包括:(i)形成交替堆叠结构,所述交替堆叠结构包括沿着垂直方向布置在衬底上的多个层;(ii)去除所述交替堆叠结构的一部分以在所述交替堆叠结构的阶梯区域中形成多个台阶平台;(iii)形成硬掩模层以覆盖所述台阶平台的顶表面;(iv)在所述硬掩模层中形成多个开口以暴露所述台阶平台中的每个台阶平台的一部分;(v)形成光致抗蚀剂层以覆盖所述硬掩模层和所述台阶平台的顶表面;(vi)使用一组相同的修整‑蚀刻工艺来图案化所述光致抗蚀剂层以在所述台阶平台中的每个台阶平台上形成一组阶梯;(vii)去除所述光致抗蚀剂层和所述硬掩模层;以及(viii)依次重复(iii),(iv),(v),(vi)和(vii)。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
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