[发明专利]一种半导体薄膜器件及其制备方法与应用在审

专利信息
申请号: 201810847564.7 申请日: 2018-07-27
公开(公告)号: CN108963011A 公开(公告)日: 2018-12-07
发明(设计)人: 钟文敏;刘秋香;唐新桂;曾思明 申请(专利权)人: 广东工业大学
主分类号: H01L31/0224 分类号: H01L31/0224;H01L31/09;H01L31/18
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 张春水;唐京桥
地址: 510006 广东省*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明涉及半导体技术领域,尤其涉及一种半导体薄膜器件及其制备方法与应用。半导体薄膜器件,包括:衬底、底电极、双钙钛矿氧化物薄膜和顶电极;底电极设置在衬底的表面;双钙钛矿氧化物薄膜设置在底电极背离衬底的一侧;顶电极设置在双钙钛矿氧化物薄膜背离底电极的一侧。使用该薄膜材料的半导体薄膜器件从黑暗条件、日光条件到人造阳光条件下,展现了良好的二极管效应,同时,还展现了良好的光电效应,另外,本发明的半导体薄膜器件的光电转换效率Isolar/Idark>1000,具有十分强灵敏度,可以极大的放大光信号,解决了现有的光电二极管薄膜器件光电转换率低,且在接受光照后不具备二极管效应的技术问题。
搜索关键词: 半导体薄膜器件 底电极 氧化物薄膜 双钙钛矿 衬底 二极管效应 顶电极 制备 背离 半导体技术领域 光电二极管薄膜 光电转换效率 放大光信号 光电转换率 薄膜材料 光电效应 黑暗条件 日光条件 灵敏度 光照 应用
【主权项】:
1.一种半导体薄膜器件,其特征在于,包括:衬底、底电极、双钙钛矿氧化物薄膜和顶电极;所述底电极设置在所述衬底的表面;所述双钙钛矿氧化物薄膜设置在所述底电极背离所述衬底的一侧;所述顶电极设置在所述双钙钛矿氧化物薄膜背离所述底电极的一侧;所述双钙钛矿氧化物薄膜选自Bi2NiMnO6薄膜、Bi2Ni0.5Mn1.5O6薄膜、Bi2Ni0.8Mn1.2O6薄膜或Bi2Ni0.1Mn1.9O6薄膜。
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