[发明专利]半导体结构及其制造方法有效

专利信息
申请号: 201810769160.0 申请日: 2018-07-13
公开(公告)号: CN110718564B 公开(公告)日: 2023-10-13
发明(设计)人: 王文洁;刘权升;陈柏成 申请(专利权)人: 蓝枪半导体有限责任公司
主分类号: H01L27/146 分类号: H01L27/146
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 陈小雯
地址: 爱尔兰*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明公开一种半导体结构及其制造方法,该半导体结构包括基底、感光元件与导光结构。感光元件设置在基底中。导光结构位于感光元件上方。导光结构具有彼此相对的顶面与底面,且底面较顶面更接近基底。导光结构的最小宽度的位置位于顶面与底面之间。上述半导体结构及其制造方法可缩短制作工艺时间且可有效地降低散射光的信号干扰。
搜索关键词: 半导体 结构 及其 制造 方法
【主权项】:
1.一种半导体结构,其特征在于,包括:/n基底;/n感光元件,设置在所述基底中;以及/n导光结构,位于所述感光元件上方,且具有彼此相对的顶面与底面,其中所述底面较所述顶面更接近所述基底,且所述导光结构的最小宽度的位置位于所述顶面与所述底面之间。/n
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