[发明专利]掩模版移动装置、光刻机及光刻方法在审

专利信息
申请号: 201810145886.7 申请日: 2018-02-12
公开(公告)号: CN110147032A 公开(公告)日: 2019-08-20
发明(设计)人: 丁功明 申请(专利权)人: 上海微电子装备(集团)股份有限公司
主分类号: G03F7/20 分类号: G03F7/20
代理公司: 北京品源专利代理有限公司 11332 代理人: 孟金喆
地址: 201203 上海市浦*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明实施例公开了一种掩模版移动装置、光刻机及光刻方法。该掩模版移动装置包括:加热模块;所述加热模块包括掩模支架和加热单元;所述掩模支架内设置有掩模版设置区;所述加热单元固定于所述掩模支架上,所述加热单元包括第一加热面,所述第一加热面与所述掩模版设置区对应。本发明提供的掩模版移动装置,可以解决现有技术中,在光刻过程中,因掩模版受热膨胀后会产生弯曲,进而造成受热膨胀后掩模版上的图形偏离最佳的物面位置,致使出现物像距误差的问题,达到了提高掩模版定位的正确率,进而提高半导体集成电路的制作良率的目的。
搜索关键词: 掩模版 移动装置 加热单元 掩模支架 加热模块 受热膨胀 光刻机 加热面 设置区 光刻 半导体集成电路 光刻过程 图形偏离 物面位置 物像距 正确率 良率 制作
【主权项】:
1.一种掩模版移动装置,其特征在于,包括:加热模块;所述加热模块包括掩模支架和加热单元;所述掩模支架内设置有掩模版设置区;所述加热单元固定于所述掩模支架上,所述加热单元包括第一加热面,所述第一加热面与所述掩模版设置区对应。
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