[发明专利]半导体装置有效

专利信息
申请号: 201780076727.X 申请日: 2017-11-28
公开(公告)号: CN110073497B 公开(公告)日: 2022-07-08
发明(设计)人: 三宅裕树;浦上泰;山下侑佑 申请(专利权)人: 丰田自动车株式会社;株式会社电装
主分类号: H01L29/872 分类号: H01L29/872;H01L21/329;H01L29/06;H01L29/78
代理公司: 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 代理人: 韩峰;孙志湧
地址: 日本爱知*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 一种半导体装置,其具有半导体衬底、设置在半导体衬底的前表面中的第一沟槽、设置在第一沟槽内部的阳极电极、以及设置在半导体衬底的背表面上的阴极电极。所述半导体衬底具有第一p型区域、第二p型区域和与第一p型区域和第二p型区域接触的主n型区域,并且与第一沟槽的侧表面中的阳极电极形成肖特基接触。半导体衬底满足下述关系,即,当在平面图中观察前表面时,第一沟槽的面积小于主n型区域与在第一沟槽的侧表面中的阳极电极相接触的肖特基界面的面积。
搜索关键词: 半导体 装置
【主权项】:
1.一种半导体装置,包括:半导体衬底;第一沟槽,所述第一沟槽被设置在所述半导体衬底的前表面中;阳极电极,所述阳极电极被设置在所述第一沟槽的内部;以及阴极电极,所述阴极电极被设置在所述半导体衬底的背表面上,其中:所述半导体衬底具有:第一p型区域,所述第一p型区域与在所述第一沟槽的底表面中的所述阳极电极相接触,第二p型区域,所述第二p型区域与在所述第一沟槽的侧表面中的所述阳极电极相接触,以及主n型区域,所述主n型区域:与所述第一p型区域和所述第二p型区域形成接触,与在所述第一沟槽的所述侧表面中的所述阳极电极形成肖特基接触,将所述第一p型区域与所述第二p型区域隔开,并且与所述阴极电极形成接触;以及所述半导体衬底被配置为满足下述关系:当在平面图中观察所述前表面时,所述第一沟槽的面积小于所述主n型区域与在所述第一沟槽的所述侧表面中的所述阳极电极形成接触的肖特基界面的面积。
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