[发明专利]适用于三维半导体元件外延生长的成核结构有效
申请号: | 201780047846.2 | 申请日: | 2017-06-26 |
公开(公告)号: | CN109563638B | 公开(公告)日: | 2021-03-19 |
发明(设计)人: | 伯努瓦·阿姆施塔特;弗洛里安·杜邦;埃文·赫纳夫;贝朗杰·霍伊特 | 申请(专利权)人: | 原子能和替代能源委员会;艾利迪公司 |
主分类号: | H01L21/02 | 分类号: | H01L21/02;C30B23/02;C30B23/04;C30B29/60;C30B25/04;C30B25/18 |
代理公司: | 北京柏杉松知识产权代理事务所(普通合伙) 11413 | 代理人: | 王春伟;刘继富 |
地址: | 法国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明涉及一种适用于三维半导体元件(31)的外延生长的成核结构(10),所述成核结构(10)包含:衬底(11),其包含形成生长表面(13)的单晶材料;多个中间部分(14),其由从所述生长表面(13)外延生长的中间晶体材料制成并限定中间部分上表面(15);多个成核部分(16),其由包含形成晶体成核材料的过渡金属的材料制成,每个成核部分从中间部分上表面(15)外延并限定适用于三维半导体元件的外延生长的成核表面(17)。 | ||
搜索关键词: | 适用于 三维 半导体 元件 外延 生长 成核 结构 | ||
【主权项】:
1.一种适用于三维半导体元件(31)的外延生长的成核结构(10),其包含衬底(11),所述衬底(11)包含形成生长表面(13)的单晶材料,在所述生长表面(13)上有由包含过渡金属的材料制成的多个成核部分(16),其特征在于:‑所述成核结构(10)还包含多个中间部分(14),每个中间部分(14)由从所述生长表面(13)外延的中间晶体材料制成,因此中间晶体材料的晶格的晶体取向在中间晶体材料的平面中的至少一个方向上和与所述材料的平面正交的至少一个方向上与所述衬底(11)的晶体材料的晶格的晶体取向对齐,并且中间部分(14)限定在所述生长表面(13)的相对侧的中间部分上表面(15);‑每个成核部分(16)由包含从所述中间部分上表面(15)外延形成成核晶体材料的过渡金属的材料制成,因此成核晶体材料的晶格的晶体取向在成核晶体材料的平面中的至少一个方向上和与所述材料的平面正交的至少一个方向上与所述中间材料的晶格的晶体取向对齐,并且成核部分(16)限定在所述中间部分上表面(15)的相对侧并且适用于所述三维半导体元件(31)的外延生长的成核表面(17)。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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