[发明专利]半导体功率器件的终端结构及其制作方法有效

专利信息
申请号: 201711299152.6 申请日: 2017-12-08
公开(公告)号: CN108054196B 公开(公告)日: 2020-09-04
发明(设计)人: 不公告发明人 申请(专利权)人: 南京溧水高新创业投资管理有限公司
主分类号: H01L29/06 分类号: H01L29/06
代理公司: 深圳峰诚志合知识产权代理有限公司 44525 代理人: 李明香
地址: 210000 江苏省南京*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明提供一种半导体功率器件的终端结构、半导体功率器件及其制作方法。所述半导体功率器件包括N型衬底、形成于所述N型衬底上的第一层N型外延、形成于所述第一层N型外延层表面第一P型注入区、形成于所述第一层N型外延上的第二层N型外延、贯穿所述第二N型外延的第二P型注入区、形成于所述第二层N型外延上的第三层N型外延、形成于所述第三层N型外延的第三P型注入区、形成于所述第三层N型外延的第四N型外延、形成于所述第四N型外延表面的第四P型注入区、第五P型注入区、及N型注入区、贯穿所述第四P型注入区及所述第四层N型外延且延伸至所述第三P型注入区中的沟槽、及形成于所述沟槽中的多晶硅。
搜索关键词: 半导体 功率 器件 终端 结构 及其 制作方法
【主权项】:
1.一种半导体功率器件,其具有源区及位于所述有源区外围的终端结构,其特征在于;所述半导体功率器件包括N型衬底、形成于所述N型衬底上的第一层N型外延、形成于所述第一层N型外延层表面第一P型注入区、形成于所述第一层N型外延上的第二层N型外延、贯穿所述第二N型外延的第二P型注入区、形成于所述第二层N型外延上的第三层N型外延、形成于所述第三层N型外延的第三P型注入区、形成于所述第三层N型外延上的第四N型外延、形成于所述第四N型外延表面的第四P型注入区、第五P型注入区、及N型注入区、贯穿所述第四P型注入区及所述第四层N型外延且延伸至所述第三P型注入区中的沟槽、及形成于所述沟槽中的多晶硅,其中,所述第一至第四P型注入区及所述N型注入区均位于所述终端结构,所述第五P型注入区为主结且位于所述有源区,所述第一P型注入区的数量、所述第二P型注入区的数量及所述第三P型注入区的数量依次增多,所述第一P型注入区邻近所述有源区且与其中一个所述第二P型注入区相连接,每个第二P型注入区均与一个第三P型注入区对应且相连接,每个第三P型注入区通过所述沟槽中的多晶硅连接对应的一个第四P型注入区。
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