[发明专利]半导体器件及其制造方法在审

专利信息
申请号: 201711103808.2 申请日: 2017-11-10
公开(公告)号: CN108630697A 公开(公告)日: 2018-10-09
发明(设计)人: 姜秉佑 申请(专利权)人: 爱思开海力士有限公司
主分类号: H01L27/11556 分类号: H01L27/11556
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人: 李辉;刘久亮
地址: 韩国*** 国省代码: 韩国;KR
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摘要: 半导体器件及其制造方法。本文提供了一种半导体器件。该半导体器件可以包括层叠体、穿过层叠体的沟道孔、穿过层叠体且设置在沟道孔之间的虚拟沟道孔、和穿过层叠体和虚拟沟道孔的狭缝。
搜索关键词: 半导体器件 层叠体 沟道 穿过 虚拟 狭缝 制造
【主权项】:
1.一种半导体器件,该半导体器件包括:层叠体;沟道孔,所述沟道孔穿过所述层叠体;虚拟沟道孔,所述虚拟沟道孔穿过所述层叠体并设置在所述沟道孔之间;狭缝,所述狭缝穿过所述层叠体并与所述虚拟沟道孔交叠以将所述虚拟沟道孔与所述狭缝一体联接;沟道层,所述沟道层形成在所述沟道孔中;以及虚拟沟道层,所述虚拟沟道层包括形成在所述虚拟沟道孔中的第一半导体图案以及形成在所述狭缝中并将所述第一半导体图案彼此联接的第二半导体图案。
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