[发明专利]LED芯片的制作方法在审
申请号: | 201710973076.6 | 申请日: | 2017-10-18 |
公开(公告)号: | CN107731969A | 公开(公告)日: | 2018-02-23 |
发明(设计)人: | 袁章洁;胡卫;李康 | 申请(专利权)人: | 湘能华磊光电股份有限公司 |
主分类号: | H01L33/00 | 分类号: | H01L33/00;H01L33/62 |
代理公司: | 北京晟睿智杰知识产权代理事务所(特殊普通合伙)11603 | 代理人: | 于淼 |
地址: | 423038 湖南省郴*** | 国省代码: | 湖南;43 |
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摘要: | 本申请公开了一种LED芯片的制作方法,涉及LED制作技术领域,该方法依次包括制作包含GaN基的LED外延片、沉积透明导电层、对透明导电层进行退火处理、制作发光区台面、去除P型GaN层边缘区域的透明导电层、沉积钝化层、制作P型电极、P型焊盘、N型电极和N型焊盘并形成LED芯片组合、切割形成单独的LED芯片。如此方案,在完成透明导电层的沉积后,立即将透明导电层进行退火处理,这样制备出的透明导电层的穿透率高,可有效提升LED芯片的亮度。 | ||
搜索关键词: | led 芯片 制作方法 | ||
【主权项】:
一种LED芯片的制作方法,其特征在于,依次包括:制作包含GaN基的LED外延片,所述LED外延片包括依次设置的蓝宝石衬底、生长在所述蓝宝石衬底上的N型GaN层、以及生长在所述N型GaN层上的有源区量子阱层、以及生长在所述有源区量子阱层上的P型GaN层;在270℃‑330℃气氛下,沉积透明导电层,所述透明导电层的厚度为20nm至300nm;将所述透明导电层进行退火处理,使所述透明导电层变为致密融合状态并与所述P型GaN层形成欧姆接触,其中,退火处理的温度为500℃至680℃,退火处理的时间为2min‑20min;通过光刻、刻蚀和清洗去胶使N型GaN层部分裸露,制作出发光区台面;通过光刻和刻蚀将所述P型GaN层边缘区域的透明导电层去除;在所述P型GaN层边缘区域沉积SiO2钝化层,使所述SiO2钝化层覆盖部分所述透明导电层、所述P型GaN层的边缘区域、所述有源区量子阱层的侧面以及部分所述N型GaN层,并经过光刻、刻蚀、去胶清洗漏出待蒸镀的P型电极区域、P型焊盘区域、N型电极区域和N型焊盘区域;在所述P型电极区域、所述P型焊盘区域、所述N型电极区域和所述N型焊盘区域分别制备P型电极、P型焊盘、N型电极和N型焊盘,形成LED芯片组合;将所述LED芯片组合进行退火处理并切割形成多个单独的LED芯片。
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