[发明专利]光电二极管芯片及其制作方法在审
申请号: | 201710744981.4 | 申请日: | 2017-08-25 |
公开(公告)号: | CN107516684A | 公开(公告)日: | 2017-12-26 |
发明(设计)人: | 刘宏亮;杨彦伟;陆一峰;徐虎 | 申请(专利权)人: | 深圳市芯思杰智慧传感技术有限公司 |
主分类号: | H01L31/0232 | 分类号: | H01L31/0232;H01L31/109;H01L31/18 |
代理公司: | 北京友联知识产权代理事务所(普通合伙)11343 | 代理人: | 尚志峰,汪海屏 |
地址: | 518071 广东省深圳市南*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明提出了一种光电二极管芯片及其制作方法,该光电二极管芯片包括外延层;该外延层包括衬底层、缓冲层、吸收层及顶层,衬底层位于底部,缓冲层、吸收层及顶层依次沉积在衬底层上;在顶层之上沉积有钝化膜,在钝化膜上蚀刻有扩散区,使得扩散区扩散至吸收层和顶层内;其中,在外延层的底部,自上而下蚀刻有光反射区,光反射区设置于衬底层和吸收层之间,使得自衬底层射入的光线照射在光反射区后,反射到扩散区。该光电二极管芯片能够从侧面入光,光线经过反射区反射到扩散区,解决了现有正面入光的光电二极管芯片不能很好的与侧面出光的激光器对接耦合、扩散区大小受到限制以及贴装工艺控制难度大等问题。 | ||
搜索关键词: | 光电二极管 芯片 及其 制作方法 | ||
【主权项】:
一种光电二极管芯片,其特征在于,包括:外延层,包括衬底层、缓冲层、吸收层及顶层,所述衬底层位于底部,所述缓冲层、所述吸收层及所述顶层依次沉积在衬底层上;在所述顶层之上沉积有钝化膜,在所述钝化膜上蚀刻有扩散区,使得所述扩散区扩散至所述吸收层和所述顶层内;其中,在所述外延层的底部,自上而下蚀刻有光反射区,所述光反射区设置于所述衬底层和所述吸收层之间,使得自所述衬底层射入的光线照射在所述光反射区后,反射到所述扩散区。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
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