[发明专利]TFT基板的制作方法及TFT基板有效
| 申请号: | 201710218699.2 | 申请日: | 2017-04-05 |
| 公开(公告)号: | CN107039351B | 公开(公告)日: | 2019-10-11 |
| 发明(设计)人: | 张海杰;张占东;杨玲 | 申请(专利权)人: | 武汉华星光电技术有限公司 |
| 主分类号: | H01L21/84 | 分类号: | H01L21/84;H01L27/12 |
| 代理公司: | 深圳市德力知识产权代理事务所 44265 | 代理人: | 林才桂 |
| 地址: | 430070 湖北省武汉市*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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| 摘要: | 本发明提供一种TFT基板的制作方法及TFT基板。本发明的TFT基板的制作方法,先蚀刻栅极绝缘层形成两第一过孔,并在两第一过孔内形成与两跨接金属块,再蚀刻层间介电层形成分别与两第一过孔连通的两第二过孔,源极和漏极分别通过两第二过孔与两跨接金属块接触,通过将传统的一次蚀刻工艺制作出栅极绝缘层与层间介电层的过孔结构改进为两次蚀刻工艺,能够提升有源层的均一性,降低制程难度,避免因蚀刻厚度较厚而造成的蚀刻停止的问题,提升产品品质。 | ||
| 搜索关键词: | tft 制作方法 基板 | ||
【主权项】:
1.一种TFT基板的制作方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤1、提供衬底基板(10),在所述衬底基板(10)上从下到上依次制作缓冲层(20)与有源层(30);对所述有源层(30)两端进行离子掺杂,形成两离子重掺杂区(31);在所述有源层(30)与缓冲层(20)上形成栅极绝缘层(40);步骤2、在所述栅极绝缘层(40)上形成光阻层(50),采用半色调光罩对所述光阻层(50)进行曝光、显影,在所述光阻层(50)中形成第一凹槽(51)和两第一通孔(52);所述第一凹槽(51)位于所述两离子重掺杂区(31)之间待形成的沟道区的上方,所述两第一通孔(52)分别位于所述两离子重掺杂区(31)的上方;步骤3、以剩余的光阻层(50)为遮挡,对所述栅极绝缘层(40)进行蚀刻,在所述栅极绝缘层(40)分别对应于所述两第一通孔(52)下方的区域形成两第一过孔(41);步骤4、对所述光阻层(50)进行整体薄化处理,使得所述第一凹槽(51)转化为第二通孔(53);以剩余的光阻层(50)为遮挡,对所述有源层(30)进行离子掺杂,在有源层(30)对应位于所述第二通孔(53)下方的区域形成沟道区(32);步骤5、剥离剩余的光阻层(50),在所述栅极绝缘层(40)上沉积第一金属层,对所述第一金属层进行图形化处理,得到对应于所述沟道区(32)上方的栅极(60)、以及分别位于两第一过孔(41)内的两跨接金属块(61);步骤6、以所述栅极(60)为遮挡对有源层(30)进行离子掺杂,得到分别位于沟道区(32)与两离子重掺杂区(31)之间的两离子轻掺杂区(34);步骤7、在所述栅极绝缘层(40)上形成层间介电层(70),对所述层间介电层(70)进行蚀刻,在所述层间介电层(70)上形成分别位于所述两跨接金属块(61)上方的两第二过孔(71);步骤8、在所述层间介电层(70)上沉积第二金属层,对所述第二金属层进行图形化处理,得到间隔分布于所述层间介电层(70)上并分别通过两第二过孔(71)与两跨接金属块(61)接触的源极(81)与漏极(82);步骤9、在所述层间介电层(70)上从下到上依次制作平坦层(90)、公共电极(101)、钝化层(110)及像素电极(102)。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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