[发明专利]三维电路及其制造方法在审

专利信息
申请号: 201710187807.4 申请日: 2017-03-27
公开(公告)号: CN107919361A 公开(公告)日: 2018-04-17
发明(设计)人: 杨金成 申请(专利权)人: 旺宏电子股份有限公司
主分类号: H01L27/11529 分类号: H01L27/11529;H01L27/11551;H01L27/11573;H01L27/11578
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司11021 代理人: 任岩
地址: 中国台湾新竹*** 国省代码: 台湾;71
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摘要: 发明公开了一种三维电路及其制造方法。多层电路(例如,3D存储器阵列)具有一组围绕配置在多层区域的周边的接触区域,其中联机形成至在W个层中的电路元件。各接触区域具有多个在其上具有着陆区的梯级,其包括在多达M个层上的梯级,其中M可远小于W。接触区域的组合在全部W个层上提供着陆区,在组合中的各接触区域具有在W个层的不同子集上的着陆区。一种装置的形成方法,使用刻蚀‑修整工艺以在全部接触区域中形成M个层,且在一些接触区域中使用一次或多次的非等向性刻蚀。
搜索关键词: 三维 电路 及其 制造 方法
【主权项】:
一种三维电路,其特征在于,包括:多层电路,具有配置在一组包括W个构件的层L(i)中的电路元件,其中i从1至W,该多层电路包括具有周边和一组包括N个构件的接触区域的多层区域,该组接触区域中的这些接触区域围绕配置于该多层区域的该周边;以及该组接触区域中的各接触区域包括在该多层电路的多达M个层中的电路元件上的着陆区,其中这些接触区域的第一子集包括在最上层L(i)上的着陆区,其中i从W‑M+1至W,且这些接触区域的第二子集包括在层L(i)上的着陆区,其中i从W‑M+1‑S1至W‑S1,S1为第一次阶段掩模刻蚀的层数。
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