[发明专利]半导体封装体及其制造方法有效
申请号: | 201710034127.9 | 申请日: | 2017-01-18 |
公开(公告)号: | CN107845582B | 公开(公告)日: | 2020-02-21 |
发明(设计)人: | 林柏均 | 申请(专利权)人: | 南亚科技股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/60 | 分类号: | H01L21/60;H01L23/52;H01L23/48;H01L21/768 |
代理公司: | 北京中誉威圣知识产权代理有限公司 11279 | 代理人: | 王正茂;丛芳 |
地址: | 中国台湾桃园市龟山*** | 国省代码: | 台湾;71 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开了一种半导体封装体及其制造方法,该制造方法包含:提供具有第一表面以及相对第一表面的第二表面的中介层,其中中介层包含多个贯通特征,嵌入在中介层中且自中介层的第一表面朝向第二表面延伸,其中贯通特征可形成具有多个重复的多边形单元的图样,且贯通特征中至少部分可被涵括在至少两个相异的多边形单元中;接续地,在中介层的第一表面形成至少一个重分布层,以在重分布层远离中介层的表面形成多个端子,其中端子分别选择性地连接至贯通特征中的对应者;以及,在重分布层上设置包含多个主动表面的半导体元件,主动表面分别与端子电性连接。本发明可节省制造半导体封装体所需的成本,特别是制造中介层贯通特征遮罩的成本。 | ||
搜索关键词: | 半导体 封装 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
一种半导体封装体的制造方法,其特征在于,包含:提供中介层,具有第一表面以及相对所述第一表面的第二表面,其中所述中介层包含M个第一贯通特征,嵌入在所述中介层中,且所述M个第一贯通特征自所述中介层的所述第一表面朝向所述第二表面延伸,其中所述M个第一贯通特征形成具有多个多边形单元的图样,其中所述图样的所述多个多边形单元是重复的,且所述M个第一贯通特征中至少N个被配置成被涵括在至少两个相异的所述多个多边形单元中,其中M大于或等于N;在所述中介层的所述第一表面形成至少一个第一重分布层,以在所述第一重分布层远离所述中介层的表面形成多个第一端子,其中所述多个第一端子分别被配置成选择性地连接至所述多个第一贯通特征中的对应者;以及在所述第一重分布层上设置至少一个半导体元件,其中所述半导体元件包含多个主动表面,分别与所述多个第一端子电性连接。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于南亚科技股份有限公司,未经南亚科技股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201710034127.9/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:在硅基材上形成III‑V族半导体层的方法
- 下一篇:芯片封装结构
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造