[发明专利]半导体装置有效
申请号: | 201610585573.4 | 申请日: | 2016-07-22 |
公开(公告)号: | CN106531743B | 公开(公告)日: | 2020-12-25 |
发明(设计)人: | 曾根原岳志;鬼头杰 | 申请(专利权)人: | 东芝存储器株式会社 |
主分类号: | H01L27/11578 | 分类号: | H01L27/11578 |
代理公司: | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人: | 张世俊 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 实施方式的半导体装置包含第1及第2构造体、阶差、第1及第2支柱、以及第1及第2接触部。第1构造体包含第1电极层及第1绝缘体。第1构造体具有第1阶面。第2构造体在第1构造体上,设置在除第1阶面上以外的部分。第2构造体包含第2电极层及第2绝缘体。第2构造体具有第2阶面。阶差设置在第1阶面与第2阶面之间。第1支柱经由第1阶面而到达至衬底。第2支柱经由第2阶面而到达至衬底。第2支柱经由阶差与第1支柱相邻。第1接触部经由第1阶面而与第1电极层电连接。第1接触部处于阶差与第1支柱之间。阶差处于第1接触部与第2支柱之间。 | ||
搜索关键词: | 半导体 装置 | ||
【主权项】:
一种半导体装置,其特征在于包括:衬底;第1构造体,设置在所述衬底上,所述第1构造体包含第1电极层及第1绝缘体,所述第1构造体在所述第1绝缘体的表面具有第1阶面;第2构造体,在所述第1构造体上,设置在除所述第1阶面上以外的部分,所述第2构造体包含第2电极层及第2绝缘体,所述第2构造体在所述第2绝缘体的表面具有第2阶面;阶差,设置在所述第1阶面与所述第2阶面之间;绝缘层,设置在所述第1阶面及所述第2阶面上;第1支柱,设置在所述绝缘层及所述第1构造体内,所述第1支柱经由所述第1阶面而到达至所述衬底;第2支柱,设置在所述绝缘层、所述第2构造体、及所述第1构造体内,所述第2支柱经由所述第2阶面而到达至所述衬底,所述第2支柱经由所述阶差而与所述第1支柱相邻;第1接触部,设置在所述绝缘层及所述第1绝缘体内,所述第1接触部经由所述第1阶面而与所述第1电极层电连接;及第2接触部,设置在所述绝缘层及所述第2绝缘体内,所述第2接触部经由所述第2阶面而与所述第2电极层电连接;且所述第1接触部处于所述阶差与所述第1支柱之间,所述阶差处于所述第1接触部与所述第2支柱之间。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
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H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
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