[发明专利]一种基于SAXS技术的二维散射谱计算方法及系统有效

专利信息
申请号: 201610534987.4 申请日: 2016-07-08
公开(公告)号: CN107589134B 公开(公告)日: 2019-10-01
发明(设计)人: 海洋;朱才镇;邱昭政;赵宁;徐坚 申请(专利权)人: 中国科学院化学研究所;深圳大学
主分类号: G01N23/201 分类号: G01N23/201
代理公司: 北京知元同创知识产权代理事务所(普通合伙) 11535 代理人: 刘元霞;张祖萍
地址: 100190 *** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明涉及一种基于SAXS技术的二维散射谱计算方法,该方法包括以下步骤:象限选择步骤:利用SAXS本身的特性进行简化,基于SAXS散射图谱的对称性,选择其中一个象限进行匹配;提取特征点的步骤:提取该象限内SAXS散射图谱的特征点;筛选散射图谱的步骤:根据提取的特征点筛选该象限内的SAXS散射图谱;筛选全散射图谱的步骤:基于SAXS散射图谱的对称性,由该象限内的SAXS散射图谱生成整个SAXS散射图谱。本发明还提出一种基于SAXS技术的二维散射谱计算系统。本发明根据SAXS本身的特性只需对一个象限进行匹配,在保留足够信息量的同时减少计算拟合的数据量,有效提高二维散射图谱的计算时间。
搜索关键词: 一种 基于 saxs 技术 二维 散射 计算方法 系统
【主权项】:
1.一种基于SAXS技术的二维散射谱计算方法,其特征在于,该方法包括以下步骤:象限选择步骤:利用SAXS本身的特性进行简化,基于SAXS散射图谱的对称性,选择其中一个象限进行匹配;提取特征点的步骤:提取该象限内SAXS散射图谱的特征点;筛选散射图谱的步骤:根据提取的特征点筛选该象限内的SAXS散射图谱;筛选全散射图谱的步骤:基于SAXS散射图谱的对称性,由该象限内的SAXS散射图谱生成整个SAXS散射图谱;其中,在提取特征点的步骤中,具体包括以下步骤:步骤21.对SAXS散射图谱进行各种校正;步骤22.根据散射强度作散射图谱的等值线;步骤23.设定M个散射矢量Q1、Q2、……、QM,并画圆,M为正整数;步骤24.圆与等值线在该象限内的交点即为特征点;其中,所述筛选散射图谱步骤中采用式(1)进行计算:其中,Isim为计算的散射图谱的散射强度,Iexp为实验图谱的散射强度,N为拟合的散射点,n为拟合的参数个数,q12和q3为散射矢量在不同方向上的分量。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院化学研究所;深圳大学,未经中国科学院化学研究所;深圳大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201610534987.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。

同类专利
  • 一种利用SAXS分析高性能纤维的方法和系统-201610534986.X
  • 朱才镇;海洋;刘会超;赵宁;徐坚 - 中国科学院化学研究所;深圳大学
  • 2016-07-08 - 2019-11-12 - G01N23/201
  • 本发明提出一种利用SAXS分析高性能纤维的方法,该方法包括以下步骤:获取步骤:利用同步辐射SAXS获取高性能纤维内微孔结构的实验图谱;建模步骤:根据实验图谱的特征构建SAXS二维全谱拟合的计算模型,以对高性能纤维内的微孔结构进行描述;解析步骤:调整计算模型中的可调参数,使得计算图谱与所述实验图谱之差最小,从而解析出计算模型的参数,以分析和表征出高性能纤维的微孔结构。本发明还提出了一种利用SAXS分析高性能纤维的系统。本发明根据同步辐射光源的特性、SAXS散射特性来分析高性能纤维内部的结构特点,从而为纤维性能的分析提供更加准确的数据。
  • 一种描述同步辐射光源光斑形状的方法及系统-201610535016.1
  • 朱才镇;海洋;孙同兵;赵宁;徐坚 - 中国科学院化学研究所;深圳大学
  • 2016-07-08 - 2019-11-12 - G01N23/201
  • 本发明涉及一种描述同步辐射光源光斑形状的方法,该方法包括下列步骤:获取光斑的步骤:确定同步辐射的散射光源,从而得到待描述的同步辐射光源光斑;描述光斑形状的步骤:利用二维高斯函数来描述同步辐射光源光斑的形状;修正光斑形状的步骤:调整所述二维高斯函数中的可调参数以改变其所描述的光斑形状,从而描述出所述待描述的同步辐射光源光斑的形状。本发明还涉及一种描述同步辐射光源光斑形状的系统。本发明利用二维高斯函数来描述同步辐射光源光斑的形状,同步辐射的光源不是理想的点光源,而是具有一定形状的光斑光源,在进行SAXS实验数据的理论分析计算中,将具有一定形状的光源光斑纳入计算的考虑,进而提高散射结果的准确度。
  • 一种用于小角X射线散射测量的样品旋转装置-201920217674.5
  • 郑卓;徐玲 - 四川大学
  • 2019-02-20 - 2019-11-08 - G01N23/201
  • 一种用于小角X射线散射测量的样品旋转装置,涉及液体X射线散射实验技术领域。一种包括旋转装置、与旋转装置连接的加热装置、与旋转装置连接的拉伸装置,以及控制器,控制器连接至旋转装置和拉伸装置;拉伸装置包括对称设置在样品台两侧的第一固定装置和第二固定装置、两个垂直连接至第一固定装置两端的左旋螺杆、两个垂直连接至第二固定装置两端的右旋螺杆、两个连接左旋螺杆和右旋螺杆的连接部、连接至左旋螺杆的驱动装置。上述用于小角X射线散射测量的样品旋转装置能够在测量的过程中同时对材料进行加热和拉伸,实现原位研究材料在热处理和应变的复杂加工过程中的材料的结构演变和性能关系,具有跨结构尺度、多可控变量等优点。
  • 一种基于SAXS技术的二维散射谱计算方法及系统-201610534987.4
  • 海洋;朱才镇;邱昭政;赵宁;徐坚 - 中国科学院化学研究所;深圳大学
  • 2016-07-08 - 2019-10-01 - G01N23/201
  • 本发明涉及一种基于SAXS技术的二维散射谱计算方法,该方法包括以下步骤:象限选择步骤:利用SAXS本身的特性进行简化,基于SAXS散射图谱的对称性,选择其中一个象限进行匹配;提取特征点的步骤:提取该象限内SAXS散射图谱的特征点;筛选散射图谱的步骤:根据提取的特征点筛选该象限内的SAXS散射图谱;筛选全散射图谱的步骤:基于SAXS散射图谱的对称性,由该象限内的SAXS散射图谱生成整个SAXS散射图谱。本发明还提出一种基于SAXS技术的二维散射谱计算系统。本发明根据SAXS本身的特性只需对一个象限进行匹配,在保留足够信息量的同时减少计算拟合的数据量,有效提高二维散射图谱的计算时间。
  • 一种描述散射体形状的方法和系统-201610534988.9
  • 朱才镇;海洋;李鹏翀;赵宁;徐坚 - 中国科学院化学研究所;深圳大学
  • 2016-07-08 - 2019-10-01 - G01N23/201
  • 本发明涉及一种描述散射体形状的方法,该方法包括下列步骤:获得散射体形状初始值的步骤:根据材料微观结构的电子显微学分析方法得到材料内部散射体的尺寸和形状的初始值;描述散射体的步骤:利用超椭球描述函数描述散射体,根据上述初始值设定和改变超椭球描述函数中的参数,构建该形状的散射体。本发明还涉及一种描述散射体形状的系统。本发明利用超椭球描述函数来描述材料中的散射体,能够通过改变超椭球体中的函数来改变散射体形状,为二维散射图谱的计算带来了极大的便利。
  • 一种小角X射线散射的双模型拟合方法及系统-201610535005.3
  • 海洋;朱才镇;付民;赵宁;徐坚 - 中国科学院化学研究所;深圳大学
  • 2016-07-08 - 2019-10-01 - G01N23/201
  • 本发明提出了一种小角X射线散射的双模型拟合方法,包括:获取步骤:获得被分析对象的散射强度实验图谱;建模步骤:根据散射强度实验图谱的特征构建双模型;解析步骤:调整各向同性散射体的散射强度计算公式模型和取向散射体的散射强度计算公式模型中的各可调参数,使得各向同性散射体的散射强度计算公式模型和取向散射体的散射强度计算公式模型相加后得到的计算图谱与所述散射强度实验图谱之差最小,即可解析出各模型的参数。本发明还提出了一种小角X射线散射的双模型拟合系统。本发明为利用小角X射线散射进行有效观测材料介观尺度结构的无损检测提供了更好的数据支持。
  • 一种涤纶长丝的表观检测方法-201910368648.7
  • 潘阳;刘晨;邓皓冉;朱兆魁;郑云涛 - 浙江乌镇街科技有限公司
  • 2019-05-05 - 2019-09-17 - G01N23/201
  • 本发明涉及一种涤纶长丝的表观检测方法,包括如下步骤:首先对涤纶长丝进行训练学习,建立涤纶长丝表面磨损的等级模型,并把特征参数导入数据库中作为对比数据;再对实测涤纶长丝进行离子束辐照,用探测器接收高速脉冲信号,传送至放大器,通过测时系统准确监测起始信号和终止信号;将实测涤纶长丝的特征参数与对比数据相比,预测出实测涤纶长丝的表面磨损等级数。由于离子散射谱的信息只来自涤纶长丝最表层,灵敏度极高,因此可以做到近于无破坏涤纶长丝的表面成分分析。本发明通过对实测涤纶长丝表面用离子束辐照,用探测器接收信号,传入到电脑,以实现涤纶长丝表面损坏程度的在线监测,能够实现无损检测,且无需人工判断,易于操作。
  • 一种用于SAXS图谱分析的CCD消模糊化方法及系统-201610537012.7
  • 朱才镇;海洋;赵昱;赵宁;徐坚 - 中国科学院化学研究所;深圳大学
  • 2016-07-08 - 2019-08-27 - G01N23/201
  • 本发明涉及一种用于消除CCD对散射光源光斑影响的方法,该方法包括下列步骤:获取散射图谱的步骤:获取CCD所采集的散射光源光斑的二维SAXS散射图谱;描述模糊化的散射图谱的步骤:利用点扩展函数来描述所述CCD所采集的散射光源光斑的二维SAXS散射图谱;修正散射图谱的步骤:调整点扩展函数中的可调参数来消除CCD对同步辐射光源光斑的二维散射图谱的影响。本发明还涉及一种用于消除CCD对散射光源光斑影响的系统。通过采用上述方法及系统,能够为二维SAXS散射图谱的计算拟合提供更为准确的数据。
  • 射束生成单元以及小角度X射线散射装置-201580011600.0
  • 表和彦;伊藤和辉 - 株式会社理学
  • 2015-02-02 - 2019-06-07 - G01N23/201
  • 本发明提供以紧凑的结构及高信号背景比同时获得各向异性的像的微小射束生成单元以及小角度X射线散射装置。微小射束生成单元(110)生成向试样照射的束斑尺寸微小的X射线,以便利用一维检测器或者二维检测器检测衍射X射线,所述微小射束生成单元具备:狭缝(115),其设置在X射线光路上,将X射线修整为平行射束;以及两个切槽晶体单色器(117、118),它们配置为(+,‑,‑,+),除去利用狭缝修整后的平行射束的寄生散射。由此,能够以紧凑的结构及高信号背景比同时获得各向异性的像。
  • 用于X射线散射分析的X射线分析系统-201410167870.8
  • J·S·皮德森 - 布鲁克AXS有限公司
  • 2014-03-14 - 2019-06-04 - G01N23/201
  • 本发明涉及用于X射线散射分析的X射线分析系统。该X射线分析系统包括:X射线源,用于产生沿透射轴(3)传播的X射线的射束;至少一个具有孔隙的混合狭缝(5b),该孔隙限定射束的横截面的形状;样品,由混合狭缝(5b)成形的射束照射到该样品上;X射线检测器,用于检测来自于该样品的X射线,其中混合狭缝(5b)包括至少三个混合狭缝元件(7),每个混合狭缝元件(7)包括以锥角α≠0与基底(9)结合的单晶基板(8),混合狭缝元件(7)的单晶基板(8)限制该孔隙,该X射线分析系统的特征在于,混合狭缝元件(7)沿透射轴(3)以一定偏移量交错布置。本发明的X射线分析系统表现出改进的分辨率和信噪比。
  • 用于小角X射线散射实验的原位装置-201610955590.2
  • 贺周同;曾建荣;田丰;唐辉;戚威;汪雪;张灿;夏汇浩 - 中国科学院上海应用物理研究所
  • 2016-10-27 - 2019-01-18 - G01N23/201
  • 本发明公开了一种用于小角X射线散射实验的原位装置。该装置包括:真空及气氛保护系统、应力加载及测量系统、温度加载及测量系统;本发明在应力加载系统中采用拉‑压应力转换设计实现在应力加载过程中样品的自对中;本发明在加温及测量系统中采用特殊设计,在实现宽X射线通道的同时保证温度场的均匀,同时样品的加温温度可达1100摄氏度。本发明结构简单、性能可靠、测量精度高,可在真空或气氛保护环境下同时对样品进行温度、应力加载。本发明配合同步辐射小角X射线散射线站使用,可对被测样品进行在力学使役环境下的微观变形,损伤和断裂过程进行原位检测,为揭示脆性材料样品的形变、微观结构在应力下的变化提供了有效、可靠的测试手段。
  • 多尺度结构检测单元与薄膜双向拉伸装置联用的在线研究系统-201820452700.8
  • 李良彬;张文文;孟令蒲;陈晓伟;叶克;赵浩远 - 中国科学技术大学
  • 2018-04-02 - 2018-10-26 - G01N23/201
  • 本实用新型公开了一种多尺度结构检测单元与薄膜双向拉伸装置联用的在线研究系统,包括立式小角和广角X射线散射单元、量子级联红外激光吸收单元、小角激光光散射单元、高速大应变薄膜双向拉伸装置、控制及数据采集单元、光学平台;立式小角和广角X射线散射检测系统包括X射线发生器、多段式真空管道、X射线小角散射探测器、X射线广角探测器;高速大应变薄膜双向拉伸装置设于所述下光学平台与上光学平台之间,包括设于加热炉体中的夹具拉伸区,样品设于夹具拉伸区中。可实施不同模式的拉伸;各结构检测单元相互配合、互补干扰;各结构检测单元与薄膜双向拉伸装置联用实现结构在线检测;各结构检测单元集成控制,方便操作和提高数据采集精度。
专利分类
×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

400-8765-105周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top