[发明专利]同时制作PMOS管和NMOS管的方法、CMOS及其制作方法、振荡器有效

专利信息
申请号: 201610227079.0 申请日: 2016-04-13
公开(公告)号: CN107293561B 公开(公告)日: 2020-05-19
发明(设计)人: 赵建文;张祥;崔铮 申请(专利权)人: 中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所
主分类号: H01L27/28 分类号: H01L27/28;H01L51/30;H01L51/05;H03K3/03
代理公司: 深圳市铭粤知识产权代理有限公司 44304 代理人: 孙伟峰
地址: 215123 江苏省*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明提供了一种同时制作PMOS管和NMOS管的方法,包括:在基板上形成第一源极和第一漏极以及第二源极和第二漏极;在所述第一源极和所述第一漏极之间形成P型半导体碳纳米管,同时在所述第二源极和所述第二漏极之间形成N型半导体碳纳米管;在所述第一源极、所述第一漏极、所述第二源极、所述第二漏极、所述P型半导体碳纳米管及所述N型半导体碳纳米管上形成介电层;在所述介电层上形成第一栅极及第二栅极;所述第一栅极与所述P型半导体碳纳米管相对,所述第二栅极与所述N型半导体碳纳米管相对,以形成在同一基板上的PMOS管和NMOS管。本发明还提供了一种CMOS及其制作方法、振荡器。本发明降低了CMOS制作的工艺复杂性和成本,提高了CMOS性能的稳定性。
搜索关键词: 同时 制作 pmos nmos 方法 cmos 及其 制作方法 振荡器
【主权项】:
一种同时制作PMOS管和NMOS管的方法,其特征在于,包括:在基板上形成第一源极和第一漏极以及第二源极和第二漏极;其中,所述第一漏极与所述第二漏极相邻;在所述第一源极和所述第一漏极之间形成P型半导体碳纳米管,同时在所述第二源极和所述第二漏极之间形成N型半导体碳纳米管;在所述第一源极、所述第一漏极、所述第二源极、所述第二漏极、所述P型半导体碳纳米管及所述N型半导体碳纳米管上形成介电层;在所述介电层上形成第一栅极及第二栅极;其中,所述第一栅极与所述P型半导体碳纳米管相对,所述第二栅极与所述N型半导体碳纳米管相对,以形成在同一基板上的PMOS管和NMOS管。
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