[发明专利]晶片封装体及其制造方法在审
| 申请号: | 201610059834.9 | 申请日: | 2016-01-28 |
| 公开(公告)号: | CN105895613A | 公开(公告)日: | 2016-08-24 |
| 发明(设计)人: | 何彦仕;张恕铭;沈信隆 | 申请(专利权)人: | 精材科技股份有限公司 |
| 主分类号: | H01L23/498 | 分类号: | H01L23/498;H01L21/60 |
| 代理公司: | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人: | 刘新宇 |
| 地址: | 中国台湾桃园市中*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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| 摘要: | 一种晶片封装体及其制造方法,该晶片封装体包含晶片、介电接合层、载体与重布线层。晶片具有基底、焊垫与保护层。保护层位于基底上。焊垫位于保护层中。介电接合层位于保护层上,且介电接合层位于载体与保护层之间。载体、介电接合层与保护层具有连通的穿孔,使焊垫从穿孔裸露。重布线层包含连接部与无源元件部。连接部位于焊垫、穿孔的壁面与载体背对介电接合层的表面上。无源元件部位于载体的表面上,且无源元件部的一端连接在载体的表面上的连接部。本发明不仅可节省大量的组装时间、降低已知电感元件的成本,还可提升设计上的便利性。 | ||
| 搜索关键词: | 晶片 封装 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
一种晶片封装体,其特征在于,包含:一晶片,具有一基底、一焊垫与一保护层,该保护层位于该基底上,该焊垫位于该保护层中;一介电接合层,位于该保护层上;一载体,该介电接合层位于该载体与该保护层之间,该载体、该介电接合层与该保护层具有连通的一穿孔,使该焊垫从该穿孔裸露;以及一重布线层,包含:一连接部,位于该焊垫、该穿孔的壁面与该载体背对该介电接合层的一表面上;以及一无源元件部,位于该载体的该表面上,且该无源元件部的一端连接在该载体的该表面上的该连接部。
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