[发明专利]半导体发光元件在审
申请号: | 201610015618.4 | 申请日: | 2016-01-11 |
公开(公告)号: | CN105957940A | 公开(公告)日: | 2016-09-21 |
发明(设计)人: | 胜野弘;石黑阳;山田真嗣 | 申请(专利权)人: | 株式会社东芝 |
主分类号: | H01L33/44 | 分类号: | H01L33/44;H01L33/02 |
代理公司: | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人: | 张世俊 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 半导体发光元件包含基体、第1~3半导体层、第1导电层及第1、2绝缘层。第1半导体层包含第1导电型区域。第2半导体层设置在第1半导体层与基体之间,且为第2导电型。第3半导体层设置在第1半导体层与第2半导体层之间。第1导电层设置在第2半导体层的一部分与基体之间。第1导电层与第2半导体层电连接。第1绝缘层设置在第2半导体层的另一部分与基体之间以及第1导电层与基体之间。第2绝缘层设置在第1绝缘层与基体之间。第1绝缘层的第1厚度比第1绝缘层的第2厚度薄。第2绝缘层的第3厚度与第2绝缘层的第4厚度的差的第2绝对值小于第1厚度与第2厚度的差的第1绝对值。 | ||
搜索关键词: | 半导体 发光 元件 | ||
【主权项】:
一种半导体发光元件,其特征在于具备:基体;第1半导体层,包含第1导电型区域;第2导电型的第2半导体层,设置在所述第1半导体层与所述基体之间;第3半导体层,设置在所述第1半导体层与所述第2半导体层之间;第1导电层,设置在所述第2半导体层的一部分与所述基体之间,且与所述第2半导体层电连接;第1绝缘层,设置在所述第2半导体层的另一部分与所述基体之间以及所述第1导电层与所述基体之间;以及第2绝缘层,设置在所述第1绝缘层与所述基体之间;且从所述第2半导体层朝向所述第1半导体层的第1方向上与所述第1导电层重叠的第1位置上的所述第1绝缘层的第1厚度,比所述第1方向上不与所述第1导电层重叠的第2位置上的所述第1绝缘层的第2厚度薄,所述第1位置上的所述第2绝缘层的第3厚度与所述第2位置上的所述第2绝缘层的第4厚度的差的第2绝对值小于所述第1厚度与所述第2厚度的差的第1绝对值。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株式会社东芝,未经株式会社东芝许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201610015618.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种提高硅基光伏器件光电转换效率的方法
- 下一篇:一种门磁开关脉冲检测装置