[发明专利]半导体结构及其制作方法有效
申请号: | 201510996499.0 | 申请日: | 2015-12-25 |
公开(公告)号: | CN105489581B | 公开(公告)日: | 2018-06-29 |
发明(设计)人: | 梁肖;曹子贵;邓咏桢 | 申请(专利权)人: | 上海华虹宏力半导体制造有限公司 |
主分类号: | H01L23/488 | 分类号: | H01L23/488;H01L21/60 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 吴敏 |
地址: | 201203 上海市浦东*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 一种半导体结构及其制作方法,在形成多层金属互连层同时形成与其电绝缘的伪金属互连层,该伪金属互连层至少包括一层伪顶层金属图案,该伪顶层金属图案与金属互连层中的顶层金属图案同层;在顶层金属图案上形成导电插塞时,在伪顶层金属图案上形成网状金属支撑结构,该网状金属支撑结构的网眼内填充有介电材料;在导电插塞以及网状金属支撑结构上形成焊垫,该焊垫包括被钝化层覆盖的边缘区域以及暴露的中心区域,焊垫边缘区域与金属互连层电连接,焊垫中心区域由网状金属支撑结构支撑。网状金属支撑结构支撑效果好、易破裂的介电材料被限制在单个网眼内,不会因为单个网眼内的介电材料破裂,导致该裂纹在整片介电材料中放大,提高了芯片可靠性。 | ||
搜索关键词: | 顶层金属图案 网状金属 支撑结构 金属互连层 介电材料 焊垫 网眼 半导体结构 边缘区域 导电插塞 中心区域 破裂 芯片可靠性 多层金属 电绝缘 电连接 钝化层 互连层 同层 整片 支撑 填充 制作 放大 暴露 覆盖 | ||
【主权项】:
1.一种半导体结构,包括:半导体衬底,所述半导体衬底的表面形成有半导体器件,所述半导体器件上形成有若干层金属互连层;焊垫,与所述若干层金属互连层中的部分顶层金属图案连接,用于通过所述若干层金属互连层与所述半导体器件电连接;其特征在于,所述半导体结构还包括:与所述若干层金属互连层电绝缘的伪金属互连层,所述伪金属互连层至少包括伪顶层金属图案,所述伪顶层金属图案与所述若干层金属互连层中的顶层金属图案位于同层;所述焊垫包括被钝化层覆盖的边缘区域以及被所述钝化层暴露的中心区域,所述焊垫的边缘区域与所述金属互连层中的顶层金属图案电连接,所述焊垫的中心区域与其下的伪顶层金属图案之间具有网状金属支撑结构,所述网状金属支撑结构的网眼内填充有介电材料;其中,所述网状金属支撑结构为一体结构。
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