[发明专利]半导体元件及其制造方法有效
申请号: | 201510472783.8 | 申请日: | 2015-08-05 |
公开(公告)号: | CN106340525B | 公开(公告)日: | 2019-04-16 |
发明(设计)人: | 钟泽伟;周宗辉;张旭廷 | 申请(专利权)人: | 力晶科技股份有限公司 |
主分类号: | H01L27/146 | 分类号: | H01L27/146 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 陈小雯 |
地址: | 中国台湾新竹*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 本发明公开一种半导体元件及其制造方法,该半导体元件包括:基底、至少一感测器、介电层、至少一光导管结构、至少一焊垫、遮蔽层以及保护层。感测器位于第一区的基底中。介电层位于基底上。光导管结构位于第一区的介电层中。光导管结构对应于感测器。焊垫位于第二区的介电层中。遮蔽层位于介电层上,其中遮蔽层环绕光导管结构。保护层位于遮蔽层上。焊垫上方的介电层、遮蔽层以及保护层中具有至少一焊垫开口,以暴露对应的焊垫的顶面。 | ||
搜索关键词: | 半导体 元件 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
1.一种半导体元件,包括:基底,具有第一区与第二区;至少一感测器,位于该第一区的该基底中;介电层,位于该第一区与该第二区的该基底上;至少一光导管结构,位于该第一区的该介电层中,其中该光导管结构对应于该感测器;至少一焊垫,位于该第二区的该介电层中;遮蔽层,位于该介电层上,其中该遮蔽层环绕该光导管结构;以及保护层,位于该遮蔽层上,其中该焊垫上方的该介电层、该遮蔽层以及该保护层中具有至少一焊垫开口,以暴露对应的该焊垫的顶面。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
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