[发明专利]半导体元件及其制造方法有效

专利信息
申请号: 201510472783.8 申请日: 2015-08-05
公开(公告)号: CN106340525B 公开(公告)日: 2019-04-16
发明(设计)人: 钟泽伟;周宗辉;张旭廷 申请(专利权)人: 力晶科技股份有限公司
主分类号: H01L27/146 分类号: H01L27/146
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 陈小雯
地址: 中国台湾新竹*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 发明公开一种半导体元件及其制造方法,该半导体元件包括:基底、至少一感测器、介电层、至少一光导管结构、至少一焊垫、遮蔽层以及保护层。感测器位于第一区的基底中。介电层位于基底上。光导管结构位于第一区的介电层中。光导管结构对应于感测器。焊垫位于第二区的介电层中。遮蔽层位于介电层上,其中遮蔽层环绕光导管结构。保护层位于遮蔽层上。焊垫上方的介电层、遮蔽层以及保护层中具有至少一焊垫开口,以暴露对应的焊垫的顶面。
搜索关键词: 半导体 元件 及其 制造 方法
【主权项】:
1.一种半导体元件,包括:基底,具有第一区与第二区;至少一感测器,位于该第一区的该基底中;介电层,位于该第一区与该第二区的该基底上;至少一光导管结构,位于该第一区的该介电层中,其中该光导管结构对应于该感测器;至少一焊垫,位于该第二区的该介电层中;遮蔽层,位于该介电层上,其中该遮蔽层环绕该光导管结构;以及保护层,位于该遮蔽层上,其中该焊垫上方的该介电层、该遮蔽层以及该保护层中具有至少一焊垫开口,以暴露对应的该焊垫的顶面。
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