[发明专利]一种场效应半导体装置及其制造方法无效
申请号: | 201510284848.6 | 申请日: | 2015-05-28 |
公开(公告)号: | CN106298918A | 公开(公告)日: | 2017-01-04 |
发明(设计)人: | 朱江 | 申请(专利权)人: | 朱江 |
主分类号: | H01L29/78 | 分类号: | H01L29/78;H01L21/336;H01L29/417;H01L29/423 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 113200 辽宁省*** | 国省代码: | 辽宁;21 |
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摘要: | 本发明公开了一种场效应半导体装置,通过将源区的第一导电半导体材料由肖特基结替代,去除了源区半导体材料的设置,优化元胞布局,提高器件元胞密度,提高器件电流密度;本发明还涉及一种场效应半导体装置的制造方法。 | ||
搜索关键词: | 一种 场效应 半导体 装置 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
一种场效应半导体装置,其特征在于:包括:体区,为第二导电半导体材料;漏区,为第一导电半导体材料,临靠体区;源区,为肖特基结,位于体区表面;栅极绝缘层,为绝缘材料层,位于漏区和源区之间的体区表面;栅电极,为导电材料,位于绝缘材料层上。
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